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最新专利技术
  • 一种石英玻璃沉积砣料直径测量方法
    一种石英玻璃沉积砣料直径测量方法_锦州海普新材料有限公司_202511757043.9
    本发明涉及沉积砣料直径测量技术领域，尤其涉及一种石英玻璃沉积砣料直径测量方法，包括：将气态原料和燃料气体送入沉积炉上方的喷灯；获取氯化氢气体和二氧化硅微粉的红外光谱图；根据氯化氢气体和二氧化硅微粉的重合吸收峰的比例以及二氧化硅微粉的吸收峰的...
    2026-01-18
  • 一种零件测量装置及零件内外径测量方法
    一种零件测量装置及零件内外径测量方法_武汉东方骏驰精密制造有限公司_202511099014.8
    本发明涉及一种零件测量装置及零件内外径测量方法，零件测量装置，包括：底座；零件定位装置，包括驱动组件和两个顶尖，至少一个顶尖可沿轴向移动，驱动组件驱动其中一个顶尖转动；外径测量仪，光输出端和光接收端分布于顶尖径向上的两侧，外径测量仪可沿顶尖...
    2026-01-18
  • 一种输电线路覆冰的厚度激光测量仪
    一种输电线路覆冰的厚度激光测量仪_国网河南省电力公司新密市供电公司_202511536337.9
    本发明公开了一种输电线路覆冰的厚度激光测量仪，涉及输电线覆冰测量技术领域，包括装置架，所述装置架的内底壁上设有装置槽，所述装置槽的内壁设有移动机构，所述装置架的侧壁上设有安装有第一电动伸缩杆，所述第一电动伸缩杆的伸缩端固定连接有安装板，所述...
    2026-01-18
  • 装配式建筑叠合板现浇层厚度激光扫描系统
    装配式建筑叠合板现浇层厚度激光扫描系统_中建五局第三建设有限公司_202511521588.X
    一种装配式建筑叠合板现浇层厚度激光扫描系统，包括底板、爬升机构、移动式混凝土出料嘴、调平机构和激光扫描测量模块，底板固定在爬升机构上，爬升机构安装在攀爬架上，爬升机构带动底板沿攀爬架上下移动，底板顶部固定连接有调平支撑架，调平支撑架顶部一侧...
    2026-01-18
  • 飞秒超声晶圆金属膜多层测量系统、方法及装置
    飞秒超声晶圆金属膜多层测量系统、方法及装置_南京威福半导体技术有限公司_202511162664.2
    本发明公开了一种飞秒超声晶圆金属膜多层测量系统、方法及装置，系统包括：样品平台，用于平放待测量的晶圆样品；主光路，用于产生激光，并可将激光分离成泵浦激光和探测激光；泵浦激光路径和探测激光路径，分别用于引导泵浦激光、探测激光先后投射到晶圆样品...
    2026-01-18
  • 一种基于视觉技术的门架起升高度检测装置及方法
    一种基于视觉技术的门架起升高度检测装置及方法_嘉晨云控新能源(上海)有限公司_202510256283.4
    本发明公开了一种基于视觉技术的门架起升高度检测装置，包括图像采集单元、图像处理单元、目标检测判定单元、像素点计算单元、运算存储单元和高度控制策略单元，根据叉臂前后两端真实物理长度、实际空间内光心点到封闭区域的中心点的水平投影、像素点个数和，...
    2026-01-18
  • 一种桥梁伸缩装置缝间位移差监测方法及系统
    一种桥梁伸缩装置缝间位移差监测方法及系统_河北高速公路集团有限公司_202511786808.1
    本发明涉及一种桥梁伸缩装置缝间位移差监测方法及系统，属于缝隙尺寸的计量领域，所述方法包括步骤S1、设定不同的所述缝间位移差，获取与所述缝间位移差对应的所述解调仪的输出值，得到缝间位移差‑输出值的数据集；S2、基于所述数据集构建缝间位移差‑输...
    2026-01-18
  • 一种轴对称的二维光栅精密位移传感器和测量系统
    一种轴对称的二维光栅精密位移传感器和测量系统_中国计量科学研究院_202511461382.2
    本申请公开了一种轴对称的二维光栅精密位移传感器和测量系统，涉及光栅精密位移传感器测量技术领域，该传感器包括激光发射组件、偏振分光组件、波片组件、反射组件、分光检测组件、二维光栅组件和位移承载组件；至少两个二维光栅在位移承载组件上呈轴对称分布...
    2026-01-18
  • 一种轴对称的闪耀光栅精密位移传感器和测量系统
    一种轴对称的闪耀光栅精密位移传感器和测量系统_中国计量科学研究院_202511458670.2
    本申请公开了一种轴对称的闪耀光栅精密位移传感器和测量系统，涉及光栅精密位移传感器测量技术领域，该传感器采用轴对称分布方式，闪耀光栅组件包括第一闪耀光栅和第二闪耀光栅，以轴对称分布的方式安装于位移承载组件两侧；激光器输出激光；偏振分光组件将激...
    2026-01-18
  • 基于偏振红外技术的抗干扰纤维尺寸测量系统及方法
    基于偏振红外技术的抗干扰纤维尺寸测量系统及方法_庆阳质量检验检测研究院_202511311479.5
    本发明涉及纤维制品床上用品的尺寸测量技术领域，具体的说是基于偏振红外技术的抗干扰纤维尺寸测量系统及方法，系统包括偏振红外发射模块、高灵敏度接收模块和抗干扰信号处理单元。发射模块生成特定偏振态的红外光，接收模块捕捉经被测物反射/透射的信号，处...
    2026-01-18
  • 一种激光监测装置
    一种激光监测装置_青海黄河上游电力技术有限责任公司_202511246588.3
    本发明属于大坝监测技术领域，且公开了一种激光监测装置，包括机架，所述机架顶端的后侧位置上安装有激光监测组件，所述机架的底端设有限位管，所述限位管的内部活动套接有限位柱，所述限位柱的顶端贯穿限位管的顶端且与机架底端的中部相连接，所述机架底端的...
    2026-01-18
  • MOCVD设备及其中托盘高度测量系统及方法
    MOCVD设备及其中托盘高度测量系统及方法_中微半导体设备(上海)股份有限公司_202410825300.7
    本发明提供一种MOCVD设备及其中托盘高度测量系统及方法。本发明在工艺过程中监测大托盘上待测量位置的高度变化，通过位移计实时获得各个位置的相对高度值，绘制“位置‑相对高度”曲线图，以便于后续基于所述“位置‑相对高度”曲线图对各个小托盘的状态...
    2026-01-18
  • 一种铁路轨道磨耗检测方法及系统
    一种铁路轨道磨耗检测方法及系统_成都国铁电气设备有限公司_202511767897.5
    本发明涉及一种铁路轨道磨耗检测方法及系统，旨在实现道岔尖心轨磨耗的精准、高效检测。通过将搭载 3D 相机、速度传感器、信号处理模块及数据处理终端的检测装置置于待检测道岔区域并完成参数配置，匀速移动过程中，速度传感器按指定距离生成触发信号，驱...
    2026-01-18
  • 跨介质测量方法、装置、测量系统、存储介质和程序产品
    跨介质测量方法、装置、测量系统、存储介质和程序产品_湖南科天健光电技术有限公司_202511758201.2
    本发明涉及测量技术领域，提供一种跨介质测量方法、装置、测量系统、存储介质和计算机程序产品，该方法应用于跨介质情况下对目标的位置测量，该方法包括：针对第一介质和第二介质，基于光的折射定律建立跨所述第一介质和所述第二介质的双目测量模型，得到跨介...
    2026-01-18
  • 基于多模态传感器的制冷阀座芯几何精度检测方法及系统
    基于多模态传感器的制冷阀座芯几何精度检测方法及系统_宁波市鸿瑞精密科技有限公司_202511747453.5
    本发明涉及数据处理领域，尤其涉及基于多模态传感器的制冷阀座芯几何精度检测方法及系统，方法包括：获取制冷阀座芯预处理后的多模态数据和任一模态对应的几何参数值，将任一模态作为目标模态，计算目标模态的置信度；基于置信度计算目标模态的真实权重，遍历...
    2026-01-18
  • 一种玻璃加工后成品尺寸激光测量装置
    一种玻璃加工后成品尺寸激光测量装置_信丰大盛玻璃有限公司_202511695956.2
    本发明公开了一种玻璃加工后成品尺寸激光测量装置，涉及玻璃加工领域，解决了现有的测量装置易造成玻璃破损的问题，包括：装置外壳与安装于装置外壳外侧的龙门架，龙门架的顶部内壁安装有驱动滑座，驱动滑座的内侧安装有激光测量探头，装置外壳的顶部设置有测...
    2026-01-18
  • 一种基于联轴器生产的激光测量设备
    一种基于联轴器生产的激光测量设备_南通匠心传动技术有限公司_202511681657.3
    本发明提供一种基于联轴器生产的激光测量设备，涉及测量设备技术领域，包括机架、安装架，所述安装架的表面滑动连接有移动块，所述移动块的底部固定连接有连接架，所述连接架，所述连接架的内部开设有活动槽，所述活动槽的顶端固定连接有激光灯，所述活动槽的...
    2026-01-18
  • 一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法
    一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法_安徽大学_202511647745.1
    本发明公开了一种基于双波长照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法，属于纳米颗粒的光学检测与成像技术领域，两个激光器输出的激光经各自透镜组准直、扩束并空间滤波后被二向色镜合束。合束后的光被透镜汇聚，穿过分束镜到达放置在垂直升降位移台上的物镜焦面...
    2026-01-18
  • 一种锂电池极片模切尺寸高精度测量方法及系统
    一种锂电池极片模切尺寸高精度测量方法及系统_东莞市京品精密模具有限公司_202511591228.7
    本申请公开了一种锂电池极片模切尺寸高精度测量方法及系统，涉及激光测量技术领域，该方法包括步骤：通过激光传感器获取目标锂电池极片上多个测量点的尺寸数据；基于各测量点的尺寸数据在时序上的测量结果变化，计算得到时序维度上的总静电干扰程度；基于总静...
    2026-01-18
  • 一种光学测量方法以及光学成像系统
    一种光学测量方法以及光学成像系统_深圳中科飞测科技股份有限公司_202511590953.2
    本申请公开了一种光学测量方法以及光学成像系统，涉及光学成像技术领域，光学测量方法包括：获取第一图像和第二图像，第一图像包括标准量子点样品中量子点所产生的荧光信息，第二图像包括待检测晶圆中的套刻误差信息；基于荧光信息，确定系统像差；基于系统像...
    2026-01-18
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