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最新专利技术
  • 面向变电站GIS设备的X射线图像比对与结构变化分析方法
    面向变电站GIS设备的X射线图像比对与结构变化分析方法_四川赛康智能科技股份有限公司_202511406713.2
    本发明提供了一种面向变电站GIS设备的X射线图像比对与结构变化分析方法，涉及电力设备检测技术领域，本发明的方法包括：控制搭载有X射线机和探测器的移动检测装置进行首次检测，采集首次X射线图像，并记录移动检测装置的基准多维信息以形成基准数据集；...
    2026-02-23
  • 一种由无人机挂载的输电线路检测设备
    一种由无人机挂载的输电线路检测设备_广东天信电力工程检测有限公司_202511219376.6
    本发明涉及导线检测技术领域，具体公开了一种由无人机挂载的输电线路检测设备，包括挂载机构、横向调节机构、行走机构、检测机构和角度调节机构；检测时，利用无人机将设备吊至输电线路上方，转动驱动装置同步调整两侧成像板至八字形结构，形成引导通道，使设...
    2026-02-23
  • 测量处理装置、X射线检查装置、测量处理方法、测量处理程序及结构物的制造方法
    测量处理装置、X射线检查装置、测量处理方法、测量处理程序及结构物的制造方法_株式会社尼康_202511168329.3
    一种测量处理装置，其使用X射线测量被测量物，具备：区域信息获得部，其基于透射所述被测量物的一部分区域的X射线获得所述一部分区域的区域信息；判断部，其对所述一部分区域的所述区域信息和所述被测量物的原始区域信息进行判断，所述被测量物包括被检查区...
    2026-02-23
  • 基板检查系统及基板检查方法
    基板检查系统及基板检查方法_株式会社岛津制作所_202510560861.3
    本发明提供一种基板检查系统及基板检查方法，能够精度良好地判定焊球的形状是否良好。所述基板检查系统包括：X射线摄影装置，对配置有焊球的基板进行X射线摄影；以及基板检查装置，包括生成基板的X射线图像的检查装置控制部，检查装置控制部构成为：基于基...
    2026-02-23
  • 一种中能波段X射线发射谱测试装置及方法
    一种中能波段X射线发射谱测试装置及方法_中国科学技术大学_202511547567.5
    本发明涉及X射线发射谱技术领域，公开一种中能波段X射线发射谱测试装置及方法，所述测试装置包括：探测组件，所述探测组件的一端设置有芯片模块；送样组件，所述送样组件位于探测组件的一侧，用于待测元件送料；弯晶组件，所述弯晶组件位于探测组件的另一侧...
    2026-02-23
  • 一种PE管热熔焊缝的冷焊和过焊微波检测方法和装置
    一种PE管热熔焊缝的冷焊和过焊微波检测方法和装置_河南德朗智能科技有限公司_202511482581.1
    本发明提供了一种PE管热熔焊缝的冷焊和过焊微波检测方法和装置，首先对符合要求的PE管焊缝进行横跨焊缝的轴向微波扫描，获得一系列参照对比数据，然后针对待检测的PE管焊缝的母材进行扫描，获得母材参数，再进行环向扫描，找到相应的疑似点，再针对疑似...
    2026-02-23
  • 一种风机叶片引下线断裂探测方法及系统
    一种风机叶片引下线断裂探测方法及系统_西安交通大学_202511410591.4
    本发明涉及风机叶片引下线故障检测技术领域，尤其涉及一种风机叶片引下线断裂探测方法及系统，通过利用超宽带冲激雷达向风机叶片发射超宽带电磁脉冲并采集反射信号；对采集的反射信号进行处理，获取缺陷反射信号；然后，从缺陷反射信号中提取能量幅值信息，并...
    2026-02-23
  • 一种微波探头夹具
    一种微波探头夹具_云南电网有限责任公司普洱供电局_202311239082.0
    本申请公开了一种微波探头夹具，包括伸缩支架、传动机构、工作槽；工作槽在传动机构的驱动下沿矩形架体的长度方向移动；还包括夹持机构；夹持机构包括两个相对设置且铰接的半圆形固定杠杆；两个半圆形固定杠杆相接处连接有主动齿轮；半圆形固定杠杆的中部及远...
    2026-02-23
  • 一种用于中药试剂检测的微波传感器
    一种用于中药试剂检测的微波传感器_佛山大学_202511785389.X
    本发明公开了一种用于中药试剂检测的微波传感器，涉及传感器技术领域，包括介质板，所述介质板的顶面设有辐射层，所述介质板的底面设有接地层，所述辐射层中刻蚀有辐射单元，所述辐射层的左右两侧设有微带线；所述辐射单元包括辐射环槽，所述辐射环槽内的左右...
    2026-02-23
  • 一种基于多环耦合式IDE的基片集成波导传感器
    一种基于多环耦合式IDE的基片集成波导传感器_佛山大学_202511785387.0
    本发明公开了一种基于多环耦合式IDE的基片集成波导传感器，涉及检测技术领域，包括传感器模块、第一SMA端口及第二SMA端口，传感器模块包括由上至下依次设置的水平辐射贴片、基片集成波导及金属接地板；水平辐射贴片包括贴片本体、第一供电端、第二供...
    2026-02-23
  • 一种检测玻璃沉积物的传感器装置
    一种检测玻璃沉积物的传感器装置_南京泰迅光学仪器有限公司_202511505753.2
    本发明属于传感器技术领域，具体涉及一种检测玻璃沉积物的传感器装置，包括有机架和滑动设置在机架上的固定座，固定座上滑动设置有安装件，安装件上固定设置有多个CCD传感器，固定座上固定设置有连接架；机架上固定设置有联动架，联动架套设在连接架上，联...
    2026-02-23
  • 一种基于多波段灰度分析的硫系光学玻璃牌号分选设备
    一种基于多波段灰度分析的硫系光学玻璃牌号分选设备_湖北新华光信息材料有限公司_202511417698.1
    本发明提供一种基于多波段灰度分析的硫系光学玻璃牌号分选设备，属于光学材料检测领域。该设备包括结构支撑模块、多波段光路检测模块、图像灰度分析模块及伺服控制模块。通过宽波段光源、可切换滤波片与近红外相机实现多波段成像，结合灰度分析识别牌号，并由...
    2026-02-23
  • 一种市政排水管道用缺陷排查检测装置
    一种市政排水管道用缺陷排查检测装置_天津东晟图地理信息技术有限公司_202511682715.4
    本发明公开了一种市政排水管道用缺陷排查检测装置，涉及管道缺陷检测技术领域，包括检测模组，所述检测模组包括射流架，所述射流架一端固定有分流座，所述分流座内部开设有圆形空腔，所述圆形空腔圆周连接有若干出口，所述出口连接有喷头，所述喷头管身采用软...
    2026-02-23
  • 一种不锈钢弯管内、外壁光学检测工装
    一种不锈钢弯管内、外壁光学检测工装_东台市联顺金属新材料科技有限公司_202511321299.5
    本发明涉及不锈钢弯管检测技术领域，尤其是一种不锈钢弯管内、外壁光学检测工装，包括安装基座，安装基座上表面安装有嵌入式电控调节盘，安装基座上位于嵌入式电控调节盘外侧安装有复数个电控式翻转调节臂。本发明的一种不锈钢弯管内、外壁光学检测工装通过采...
    2026-02-23
  • 一种焊管表面缺陷检测方法
    一种焊管表面缺陷检测方法_陕西西北钛镍新材料有限公司_202511746305.1
    本发明公开一种焊管表面缺陷检测方法，包括通过采集模块同步获取焊管的表面图像数据、表面应力数据及表面温度数据；通过特征提取模块从表面图像数据提取缺陷轮廓特征，从表面应力数据提取应变梯度特征，从表面温度数据提取热斑特征；通过评估计算模块调用预训...
    2026-02-23
  • 一种基于智能传感器的航空钛合金表面缺陷检测装置
    一种基于智能传感器的航空钛合金表面缺陷检测装置_江苏通流航天科技有限公司_202511599227.7
    本发明公开了一种基于智能传感器的航空钛合金表面缺陷检测装置，涉及表面缺陷检测技术领域。该基于智能传感器的航空钛合金表面缺陷检测装置，包括底座，底座的顶部设置有外壳，外壳的前侧设置有控制面板，外壳的顶部设置有光学传感器位置调节设备；光学传感器...
    2026-02-23
  • 一种用于检测铝制管件缺陷的视觉检测装置
    一种用于检测铝制管件缺陷的视觉检测装置_宁波脉思智造科技有限公司_202511478317.0
    本发明涉及视觉检测设备设计技术领域，公开了一种用于检测铝制管件缺陷的视觉检测装置，包括检测机架、第一转盘及第二转盘，所述第一转盘上设有多组放置架，所述放置架下方均设有从动轮，所述第一转盘一侧设有初始检测装置，所述第一转盘旁边设有第二转盘，所...
    2026-02-23
  • 一种具备故障预警功能的电缆巡检装置及方法
    一种具备故障预警功能的电缆巡检装置及方法_华能海南州新能源发电有限公司_202511065848.7
    本发明提供了一种具备故障预警功能的电缆巡检装置及方法，预清洁组件包括能够对电缆进行自适应夹持并清洁的第一夹臂，检测组件包括呈半管状的检测槽和设置于检测槽的一端的视觉检测单元，检后清洁组件包括用于对电缆进行喷淋清洁的弧形喷淋座；当第一检测机构...
    2026-02-23
  • 一种SiC单晶衬底中包裹体缺陷的检测方法
    一种SiC单晶衬底中包裹体缺陷的检测方法_山东中晶芯源半导体科技有限公司_202511576731.5
    本申请提供一种SiC单晶衬底中包裹体缺陷的检测方法，方法包括获取4H‑SiC晶圆，并对4H‑SiC晶圆进行预处理，得到4H‑SiC目标晶片；利用光学表面缺陷检测仪获取4H‑SiC目标晶片表面的信号成像；光学表面缺陷检测仪包括以波长为400‑...
    2026-02-23
  • 一种芯片表面及亚表面多层级缺陷检测系统及方法
    一种芯片表面及亚表面多层级缺陷检测系统及方法_武汉大学_202511560269.X
    本申请属于半导体制造过程检测领域，具体公开了一种芯片表面及亚表面多层级缺陷检测系统及方法，该系统包括表面缺陷成像子系统、亚表面缺陷成像子系统和数据处理子系统，其中表面缺陷成像子系统用于获取表征待测芯片表面缺陷的反射光图像，并将反射光图像传输...
    2026-02-23
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