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最新专利技术
  • 探针卡超高温环境下稳定测试辅助装置
    探针卡超高温环境下稳定测试辅助装置_苏州矽利康测试系统有限公司_202511570012.2
    本申请公开了一种探针卡超高温环境下稳定测试辅助装置，涉及探针卡辅助测试的技术领域。一种探针卡超高温环境下稳定测试辅助装置，包括依次叠设的第一锁定板、PCB板和第二锁定板，所述第一锁定板和所述第二锁定板将所述PCB板抵压锁定；所述PCB板具有...
    2026-03-01
  • 一种适用于SPDS器件的测试模具及测试方法
    一种适用于SPDS器件的测试模具及测试方法_芯派科技股份有限公司_202511550877.2
    本发明提供一种适用于SPDS器件的测试模具及测试方法，包括测试底座、测试盖板、电极板、引出线和测试固定机构；测试底座上设置有凹槽，电极板设置在凹槽内，用于放置待测试件；测试盖板固定设置在测试底座上，且测试盖板开设有用于取放待测试件的窗口；测...
    2026-03-01
  • 一种芯片高低温气流测试机
    一种芯片高低温气流测试机_思拓玛试验仪器(广东)有限公司_202511550869.8
    本发明涉及芯片测试机技术领域，具体为一种芯片高低温气流测试机，包括热流仪、测试台和测试头组件，其中：测试头组件包括轮盘、测试管、测试插座和自驱动结构，轮盘绕一轴线X可旋转地设于测试台上，轮盘具有沿自身周向布置的多个测试位，测试位安装有测试插...
    2026-03-01
  • 一种基于电流波形识别的电路快速故障检测装置及方法
    一种基于电流波形识别的电路快速故障检测装置及方法_青岛中鸿重型机械股份有限公司_202511499731.X
    本申请涉及电路故障诊断技术领域，公开了一种基于电流波形识别的电路快速故障检测装置及方法，该装置包括：检测探头、主机、信号调理模块、数据采集模块、数据分析处理模块、显示单元、通信模块。该方法包括：利用模型处理数字化电流波形数据以生成重建波形；...
    2026-03-01
  • 一种多工序集成化测试设备
    一种多工序集成化测试设备_燕麦(杭州)智能制造有限公司_202511497835.7
    本发明适用于FPC测试技术领域，提供了一种多工序集成化测试设备。所述多工序集成化测试设备分为三个空间区域：第一区域，内设置有用于运送上料和下料FPC工件的流水线组件；第二区域，内设置有沿着所述流水线组件的平行方向依次设置的若干个检测工站；第...
    2026-03-01
  • 一种用于芯片测试的热流仪
    一种用于芯片测试的热流仪_思拓玛试验仪器(广东)有限公司_202511486785.2
    本申请提供一种用于芯片测试的热流仪，属于热流仪领域，包括框架，框架的底部一侧设置有制冷组件，框架的底部另一侧设置有空压机，框架的顶部中间位置设置有壳体，底部镂空的壳体中部设置有检测台，检测台的四周均设置有气流通道。本发明中，通过设置安装座与...
    2026-03-01
  • 一种多引脚芯片定位检测夹具
    一种多引脚芯片定位检测夹具_天津市滨海新区启帆数据信息技术有限公司_202511477974.3
    本发明公开了一种多引脚芯片定位检测夹具，本发明涉及检测夹具技术领域，包括检测台，所述检测台底部固定连接有四个支撑杆，所述检测台顶部固定连接有挡板，所述检测台顶部开设有两个滑动槽，其中一个所述滑动槽内转动连接有双向丝杆，所述双向丝杆一端贯穿检...
    2026-03-01
  • 一种基于多维数据的柔性线路板测试方法及系统
    一种基于多维数据的柔性线路板测试方法及系统_深圳市吉昌盛电路技术有限公司_202511453852.0
    本申请提供一种基于多维数据的柔性线路板测试方法及系统。方法包括：采集弯折过程中的电阻信号与角度数据，构成初始数据集；采用支持向量机对电阻变化与角度模式分类，获得电阻角度关联组；通过聚类分析划分信号衰减序列的疲劳阶段，得到分阶段衰减集群；对非...
    2026-03-01
  • 具有测试元件组的半导体器件及其测试方法
    具有测试元件组的半导体器件及其测试方法_豪威半导体(上海)有限责任公司_202511439253.3
    本发明提供一种具有测试元件组的半导体器件及其测试方法，衬底上的划片槽内设置有测试元件组；测试元件组邻近的N个芯片共用测试元件组，N≥2；测试元件组中设置有测试电路，测试电路包含相位译码器。本发明为基于相位识别的若干芯片共享测试元件组，可有效...
    2026-03-01
  • 一种延期执行电路功能参数自动测试方法
    一种延期执行电路功能参数自动测试方法_华东光电集成器件研究所_202511411607.3
    本发明的一种延期执行电路功能参数自动测试方法，该方法包括：构建测试系统，进行系统自检；若系统自检通过，进行延期电路参数测试；对延期电测参数测试结果进行评估，并将评估结果生成数据汇总表；对数据汇总表进行评估，根据评估结果进行数据处理并结束参数...
    2026-03-01
  • 芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质
    芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质_北京玄戒技术有限公司_202511386931.4
    本申请提出一种芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质，涉及芯片领域，其中，方法包括：基于多个供电参数对芯片中的传感器进行供电，以得到传感器在多个供电参数下的输出参数；确定至少一组供电参数对，及供电参数对中各供电参数对应的输出参数；其中...
    2026-03-01
  • 一种探针卡测试装置
    一种探针卡测试装置_南京科兴半导体检测设备有限公司_202511351376.1
    本发明公开了一种探针卡测试装置，具体涉及芯片检测技术领域，包括探针卡组件、晶圆固定台和检测驱动单元，探针卡组件由底板、固定基板和柔性PCB板组成，固定基板安装在底板上，柔性PCB板固定安装在固定基板上，底板上还安装有保护罩，探针单元包括浮动...
    2026-03-01
  • 一种高低寿命测试的问题定位方法及系统
    一种高低寿命测试的问题定位方法及系统_深圳市汇春科技股份有限公司_202511330706.9
    本发明公开了一种高低寿命测试的问题定位方法及系统，属于芯片测试技术领域，通过获取硬件初始化程序中的待测芯片的多个IP测试程序，并记录测试开始的时间信息和自锁检测机制，检测待测芯片在自检测机制中的复位信号，并将复位信号与预设异常复位信号进行匹...
    2026-03-01
  • 一种电路板测试与质量筛选自动化方法及系统
    一种电路板测试与质量筛选自动化方法及系统_龙南鼎泰电子科技有限公司_202511288318.9
    本发明公开了一种电路板测试与质量筛选自动化方法及系统，旨在解决传统电路板测试效率低、精度不足、质量控制不完善问题。通过高精度的X/Y/Z三维定位机械臂实现电路板的精准定位，结合多通道示波器、信号源、频谱分析仪等设备进行并行测试，提高了测试效...
    2026-03-01
  • 一种具有加热功能的芯片测试装置
    一种具有加热功能的芯片测试装置_儒众智能科技(苏州)有限公司_202510844922.9
    本申请实施例提供了一种具有加热功能的芯片测试装置，该装置包括：水冷散热器，所述水冷散热器包括散热器顶部和散热器底部，所述水冷散热器用于给被测芯片降温；加热装置，所述加热装置用于将测试环境温度加热到所述被测芯片需要测试的温度，所述加热装置与所...
    2026-03-01
  • 芯片接地检测设备以及方法
    芯片接地检测设备以及方法_罗伯特·博世有限公司_202410822125.6
    本申请涉及一种芯片接地检测设备，所述芯片接地检测设备包括：电流源；开关装置，包括一个或多个开关单元；电压监视单元，所述电压监视单元经由所述一个或多个开关单元耦合至芯片的裸露焊盘；以及控制单元，用于控制所述一个或多个开关单元，并且配置成在所述...
    2026-03-01
  • 一种双极型晶体管低剂量率效应在轨测试电路及方法
    一种双极型晶体管低剂量率效应在轨测试电路及方法_中国空间技术研究院_202511315425.6
    一种双极型晶体管低剂量率效应在轨测试电路及方法，测试电路包括：被测器件电路、反馈调节电路、电压跟随电路、差分采集电路，被测器件电路用于检测被测双极型晶体管的基极电流，从而验证双极型晶体管的低剂量率增强效应；反馈调节电路连接被测器件的基极，用...
    2026-03-01
  • 基于高次谐波幅相解调的半导体封装失效检测方法
    基于高次谐波幅相解调的半导体封装失效检测方法_哈尔滨工业大学_202511784658.0
    基于高次谐波幅相解调的半导体封装失效检测方法，涉及半导体封装检测技术领域。本申请是为了解决现有半导体封装缺陷检测方法存在的诸多问题。本申请向被测半导体封装施加电流激励使其产热，并采集被测半导体封装的热图序列；根据电流激励合成所述热图序列每阶...
    2026-03-01
  • 单模半导体激光器失效评估方法、装置及电子设备
    单模半导体激光器失效评估方法、装置及电子设备_度亘核芯光电技术(苏州)股份有限公司_202511777598.X
    本申请提供一种单模半导体激光器失效评估方法、装置及电子设备，涉及半导体激光器技术领域。该方法包括：获取失效单模半导体激光器的光功率电流特性测试曲线；根据预设光功率电流特性标准曲线和失效单模半导体激光器的光功率电流特性测试曲线，确定失效单模半...
    2026-03-01
  • 基于表面磁信号的IGBT模块键合引线剥离检测方法
    基于表面磁信号的IGBT模块键合引线剥离检测方法_电子科技大学_202511767224.X
    本发明属于IGBT键合引线故障检测技术领域，具体提供一种基于表面磁信号的IGBT模块键合引线剥离检测方法，用以避免现有基于磁信号的键合引线剥离检测方法因传感器布置带来的侵入性和破坏性。本发明利用铁氧体线圈磁探头捕捉IGBT模块表面由关断过程...
    2026-03-01
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