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最新专利技术
  • 一种电极箔腐蚀情况判断方法及系统
    一种电极箔腐蚀情况判断方法及系统_湖北富奕达电子科技有限公司_202511482341.1
    本发明属于情况判断技术领域，具体涉及一种电极箔腐蚀情况判断方法及系统，包括以下步骤：S1，获取待分析电极箔的灰度图像；基于反映像素点局部亮度与纹理信息的复合梯度构建结构张量，并根据结构张量确定各向异性扩散系数，利用各向异性扩散系数对灰度图像...
    2026-03-06
  • 一种基于图像处理的印花质量检测方法及系统
    一种基于图像处理的印花质量检测方法及系统_湖北雅比家用纺织品有限公司_202511482558.2
    本发明涉及图像处理技术领域，公开了一种基于图像处理的印花质量检测方法及系统，包括获取待检测印花图像和标准印花模板图像；计算图像中每一像素点的邻域梯度方向直方图，将一致性低于第一阈值的像素点确定为特征点；确定每一特征点的采样尺度因子，结合特征...
    2026-03-06
  • 一种基于改进YOLOv8的电力绝缘设备红外图像缺陷检测方法、系统、设备及介质
    一种基于改进YOLOv8的电力绝缘设备红外图像缺陷检测方法、系统、设备及介质_贵州电网有限责任公司_202511483816.9
    本发明涉及红外缺陷图像分析技术领域，本发明公开了一种基于改进YOLOv8的电力绝缘设备红外图像缺陷检测方法、系统、设备及介质，包括获取电力绝缘设备红外缺陷图像并进行预处理；修改YOLOv8的主干网络，将Ghost模块替代部分CBS层，把DC...
    2026-03-06
  • 基于ISFET传感器的电子微阵列芯片点阵阴阳性判断方法和系统
    基于ISFET传感器的电子微阵列芯片点阵阴阳性判断方法和系统_成都万众壹芯生物科技有限公司_202511484588.7
    本发明公开了一种基于ISFET传感器的电子微阵列芯片点阵阴阳性判断方法和系统，涉及计算机视觉与图像处理技术领域。该方法首先获取芯片点阵的位置及引物阶段和延伸反应后的电压数据；然后通过设定低反应阈值与噪声阈值识别并剔除坏孔；接着计算各点阵的背...
    2026-03-06
  • 一种半导体产品焊接质量实时监测及监控方法
    一种半导体产品焊接质量实时监测及监控方法_华羿微电子股份有限公司_202511484746.9
    本发明提供一种半导体产品焊接质量实时监测及监控方法，涉及半导体器件封装技术领域，包括，采用铝线焊接机对半导体产品进行焊接，在焊接完成后采集所述半导体产品的焊点图像数据，将所述焊点图像数据存储于设备磁盘中作为原始焊点图像数据。该半导体产品焊接...
    2026-03-06
  • 基于GPU优化的绝缘子缺陷检测方法、系统、产品及设备
    基于GPU优化的绝缘子缺陷检测方法、系统、产品及设备_国网新疆电力有限公司信息通信公司_202511485550.1
    本发明公开了基于GPU优化的绝缘子缺陷检测方法、系统、产品及设备，涉及计算机视觉技术领域，检测方法包括构建绝缘子缺陷数据集、对网络模型进行改进、降低网络模型的参数量、优化目标检测算法的推理速度以及对绝缘子图像进行实时缺陷检测；检测系统包括数...
    2026-03-06
  • 一种用于柔性线路板贴片的异常检测方法及系统
    一种用于柔性线路板贴片的异常检测方法及系统_深圳市宇斯特电子有限公司_202511486718.0
    本发明涉及异常检测技术，揭露了一种用于柔性线路板贴片的异常检测方法及系统，包括：获取预设的柔性线路板中的贴片图像，对所述贴片图像进行光照归一化处理和背景抑制处理，得到背景抑制贴片图像，基于多尺度梯度融合与局部结构一致性分析对所述背景抑制贴片...
    2026-03-06
  • 基于Stable Diffusion图像生成的MASK R-CNN工业产品少样本缺陷检测方法、系统及计算机设备
    基于Stable Diffusion图像生成的MASK R-CNN工业产品少样本缺陷检测方法、系统及计算机设备_齐鲁工业大学(山东省科学院)_202511486780.X
    本发明公开了一种基于Stable Diffusion图像生成的MASK R‑CNN工业产品少样本缺陷检测方法、系统及计算机设备，涉及工业产品缺陷检测技术领域，主要包括：构建数据集、训练改进的图像生成网络模型、训练改进的分类检测模型、工业产品...
    2026-03-06
  • 一种柔性模切线路板的镀层检测方法及系统
    一种柔性模切线路板的镀层检测方法及系统_嘉丰盛精密电子科技(孝感)有限公司_202511486810.7
    本发明属于图像识别领域，提出了一种柔性模切线路板的镀层检测方法及系统，该方法包括以下步骤：获取待检测柔性线路板表面图像，通过图像识别获得待检测柔性线路板的镀层图像；对待检测柔性线路板的镀层图像进行灰度化处理获得待检测的柔性线路板镀层图像的灰...
    2026-03-06
  • 光伏板表面污秽程度图像评估系统
    光伏板表面污秽程度图像评估系统_黑龙江大学_202511487067.7
    本发明公开了光伏板表面污秽程度图像评估系统，包括：图像采集模块、图像处理模块、多任务评估模块和污秽程度确定模块。通过采集光伏板表面的多光谱图像数据，经辐射定标和大气校正处理后，提取光谱反射率特征和空间纹理特征进行融合，并输入多任务深度学习模...
    2026-03-06
  • 一种抗遮挡、多尺度、自适应形变的焊点缺陷检测方法
    一种抗遮挡、多尺度、自适应形变的焊点缺陷检测方法_长沙理工大学_202511487752.X
    本发明公开了一种抗遮挡、多尺度、自适应形变的焊点缺陷检测方法及系统，旨在通过一种诊断式、协同性的检测方法论，系统性地解决工业焊接检测中因缺陷被遮挡、尺寸微小及形态不规则三大难题并发而导致的鲁棒性差、易漏检及易误检等关键技术难题。本方法包括：...
    2026-03-06
  • 融合多尺度特征与重参数化策略的光伏电池缺陷检测方法
    融合多尺度特征与重参数化策略的光伏电池缺陷检测方法_苏州工业园区服务外包职业学院(苏州市服务外包人才培养实训中心)_202511489347.1
    本申请涉及深度学习技术领域，尤其涉及一种融合多尺度特征与重参数化策略的光伏电池缺陷检测方法，包括获取待检测的图像；将图像输入至缺陷检测模型，缺陷检测模型中，骨干网络用于提取图像的特征图并利用第一C3K2_MSDA模块对特征图进行多尺度空洞滑...
    2026-03-06
  • 一种晶圆缺陷检测与调控的方法、系统、介质及产品
    一种晶圆缺陷检测与调控的方法、系统、介质及产品_深圳市星耀半导体有限公司_202511489523.1
    一种晶圆缺陷检测与调控的方法、系统、介质及产品，涉及半导体技术领域。方法包括：采集晶圆的切割边缘的微观形貌图像数据与材料结构光谱数据；将微观形貌图像数据的深度几何特征与材料结构光谱数据的深度光谱特征进行融合生成复合缺陷特征向量；根据复合缺陷...
    2026-03-06
  • 一种PCB电路板生产质量检测方法
    一种PCB电路板生产质量检测方法_深圳市合成快捷电子科技有限公司_202511490218.4
    本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种PCB电路板生产质量检测方法。方法包括：获取PCB电路板样本图像和待检测PCB电路板的表面图像；结合样本图像中像素点的灰度分布特征以及PCB电路板的焊点颜色分布特征，将样本图像中的像素点划分为各类别；...
    2026-03-06
  • 基于机器视觉的EVA胶膜表面缺陷在线检测方法
    基于机器视觉的EVA胶膜表面缺陷在线检测方法_江苏保均新材科技有限公司_202511494217.7
    本发明公开了基于机器视觉的EVA胶膜表面缺陷在线检测方法，属于工业自动化质量检测技术领域，其包括获取通过预设多角度自适应成像系统采集的EVA胶膜表面的多波段图像数据；对多波段图像数据进行背景差分处理以生成差异图像；对差异图像进行自适应对比度...
    2026-03-06
  • 一种人工智能工业视觉检测方法、系统及设备
    一种人工智能工业视觉检测方法、系统及设备_内蒙古财经大学_202511494458.1
    本发明属于人工智能技术领域，提供了一种人工智能工业视觉检测方法、系统及设备，检测方法包括图像采集与多模态数据获取、缺陷样本生成、动态预处理与噪声抑制、多模态特征融合、动态平衡缺陷检测；同步采集产品2D的HDR图像、3D点云及偏振光数据，抑制...
    2026-03-06
  • 一种基于模拟效果的山体景观均衡度量化评价方法
    一种基于模拟效果的山体景观均衡度量化评价方法_天津大学_202511497003.5
    本发明公开了一种基于模拟效果的山体景观均衡度量化评价方法，包括：模拟待评价的山体景观效果，导出模拟效果图；根据像素值对模拟效果图进行图像分割，得到复杂色块图；利用聚类算法简化复杂色块图，得到简单色块图；基于简单色块图提取各层次山峦轮廓线；平...
    2026-03-06
  • 级联的侧脸关键点定位与下颌畸形评估方法及系统
    级联的侧脸关键点定位与下颌畸形评估方法及系统_南京邮电大学_202511500597.0
    本发明公开一种级联的侧脸关键点定位与下颌畸形评估方法及系统，该方法利用深度学习的方法检测出侧脸图像中的鼻、唇和下巴区域；继而采用自适应肤色分割技术精准提取侧脸轮廓特征并定位需要的医学关键点；最后构建多指标联合阈值判别模型进行下颌畸形评估。本...
    2026-03-06
  • 一种晶圆平坦度评估方法、系统及存储介质
    一种晶圆平坦度评估方法、系统及存储介质_浙江丽水中欣晶圆半导体科技有限公司_202511500963.2
    本申请公开了一种晶圆平坦度评估方法、系统及存储介质，属于半导体制造领域，其获取晶圆表面的多光谱图像数据、厚度分布数据及三维形貌数据；对图像数据进行频域降噪与偏振反射抑制处理，增强表面缺陷与形变特征的对比度；从预处理后的图像中分离高频缺陷特征...
    2026-03-06
  • 基于图像处理的齿轮轴完整性检测与质量预警方法、系统及存储介质
    基于图像处理的齿轮轴完整性检测与质量预警方法、系统及存储介质_山东大学_202511501465.X
    本发明公开了一种基于图像处理的齿轮轴完整性检测与质量预警方法、系统及存储介质，涉及齿轮检测技术领域。采集待检测齿轮轴的应力检测数据和原始图像并预处理原始图像；对灰度图像进行边缘检测，提取齿轮轴的边缘特征，对边缘特征再次结合形态学操作提取齿轮...
    2026-03-06
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