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最新专利技术
  • 一种基于声学原型度量学习的多粒度发音评估方法及系统
    一种基于声学原型度量学习的多粒度发音评估方法及系统_西安墨奇网络科技有限公司_202610089829.6
    本申请属于人工智能和计算机辅助语言学习技术领域，公开了一种基于声学原型度量学习的多粒度发音评估方法及系统，本申请通过构建包含音素特征提取模块、音素声学原型度量学习模块以及质量感知层级聚合模块，实现了从原始语音波形到多维度评分的端到端处理；直...
    2026-04-22
  • 基于M-LFCC特征融合的语音情感识别方法
    基于M-LFCC特征融合的语音情感识别方法_重庆邮电大学_202511875848.3
    本发明公开了一种基于MFCC与LFCC特征融合的语音情感识别方法、系统、设备及存储介质，属于语音情感识别技术领域。该方法包括：对输入的语音信号进行预处理，并分别提取梅尔频率倒谱系数特征和线性频率倒谱系数特征；将提取的MFCC特征和LFCC特...
    2026-04-22
  • 情绪识别方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品
    情绪识别方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品_百融至信(北京)科技有限公司_202511907341.1
    本申请涉及一种情绪识别方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取目标对象的多媒体数据，将多媒体数据输入情绪识别模型进行情绪识别，得到情绪识别结果。其中，情绪识别模型包括特征提取单元、特征融合单元和输出单元...
    2026-04-22
  • 一种社交机器人多模态情绪分析智能陪伴系统
    一种社交机器人多模态情绪分析智能陪伴系统_上海络心科技有限公司_202511946450.4
    本发明涉及人机情感交互技术领域，本发明公开了一种社交机器人多模态情绪分析智能陪伴系统，包括：数据采集模块，用于采集用户的语音、图像和文本输入数据；多模态情绪识别模块，用于对采集到的语音、图像和文本数据分别进行情绪特征提取，生成对应的语音情绪...
    2026-04-22
  • 一种基于自适应小波变换的易混淆情绪特征提取方法
    一种基于自适应小波变换的易混淆情绪特征提取方法_桂林理工大学_202610051122.6
    本发明提供一种基于自适应小波变换的易混淆情绪特征提取方法，旨在提升易混淆情绪的识别性能。该方法通过在小波基函数中引入可学习参数β、γ、a，动态调整其时频形态，对输入语音信号进行多尺度时频分解，得到二维张量特征表示, 其提取的特征保留了语音信...
    2026-04-22
  • 一种基于多模态语音分析的精神分裂症早期识别与风险预测方法及系统
    一种基于多模态语音分析的精神分裂症早期识别与风险预测方法及系统_上海市精神卫生中心(上海市心理咨询培训中心)_202511735136.1
    本发明提供了一种基于多模态语音分析的精神分裂症早期识别与风险预测方法及系统，属于医疗人工智能技术领域。该方法包括：前瞻性采集处于临床高危期个体的自然语音数据，并对其进行为期两年的临床随访，构建首个中文精神分裂症临床高危语音纵向数据集；基于该...
    2026-04-22
  • 存储控制器与过采样存储I/O
    存储控制器与过采样存储I/O_联发科技股份有限公司_202511418094.9
    集成电路系统中的存储控制器包括一个接收电路，该接收电路在时间和电压上执行过采样。接收电路通过数据通道从存储模块接收由脉冲幅度调制(pulse amplitude modulation，简称PAM)调制的具有N个信号电平的数据信号，其中N>2...
    2026-04-22
  • SRAM集成零面积电荷泵的协同控制方法及控制电路
    SRAM集成零面积电荷泵的协同控制方法及控制电路_深圳市爱协生科技股份有限公司_202511966423.3
    本发明涉及一种SRAM集成零面积电荷泵的协同控制方法及控制电路，通过在共享主时钟周期内划分SRAM读取窗口与电荷泵高噪声工作窗口，实现时间域上的严格隔离；并引入基于BIST(内建自测试)的自适应时序校准机制，在芯片测试或上电阶段扫描可编程延...
    2026-04-22
  • 集成电路及其操作方法
    集成电路及其操作方法_台湾积体电路制造股份有限公司_202511413151.4
    本发明的实施例提供一种集成电路及其操作方法。集成电路可以包括物理上形成在衬底上的多个存内计算(CIM)电路。多个CIM电路中的每个可以包括：输入电路，其被配置为接收多个第一数据元素；存储器阵列，其耦合到所述输入电路并被配置为存储所述多个第一...
    2026-04-22
  • 一种存储设备
    一种存储设备_钠存科技(杭州)有限公司_202511993784.7
    本申请公开了一种存储设备，包括第一非易失性极化存储器件、第二非易失性极化存储器件、栅极驱动器件、漏极差分检测器件；第一非易失性极化存储器件和第二非易失性极化存储器件的源极均接地，漏极均连接漏极差分检测器件，栅极分别连接栅极驱动器件的第一输出...
    2026-04-22
  • 读出电路结构
    读出电路结构_长鑫存储技术有限公司_202511289107.7
    本申请实施例提供了一种读出电路结构，包括：结构层、在结构层顶部堆叠设置的第一互连层和第二互连层；结构层中设置有构成第一感测放大结构的晶体管，结构层包含栅极层，第一感测放大结构与第一存储阵列和第二存储阵列相邻；第一感测放大结构通过第一信号线接...
    2026-04-22
  • 时钟稳定电路、存储器系统及存储器系统的操作方法
    时钟稳定电路、存储器系统及存储器系统的操作方法_爱思开海力士有限公司_202510281525.5
    本公开涉及一种时钟稳定电路、存储器系统及存储器系统的操作方法。该时钟稳定电路包括：移位寄存器，被配置为通过基于时钟信号对数据和反转标志进行移位来输出一个或多个移位信号；比较电路，被配置为通过将一个或多个移位信号分别与一个或多个密钥进行比较来...
    2026-04-22
  • 存储器系统中的交错自刷新操作
    存储器系统中的交错自刷新操作_美光科技公司_202511385137.8
    本申请案涉及存储器系统中的交错自刷新操作。一种存储器系统可包含存储器裸片堆叠，所述存储器裸片堆叠包含与衬底耦合的接口存储器裸片和堆叠在所述接口存储器裸片上的至少一个存储器裸片。所述接口存储器裸片可接收自刷新进入命令，触发所述接口存储器裸片以...
    2026-04-22
  • 三维集成电路
    三维集成电路_IMEC非营利协会_202511369342.5
    一种三维集成电路，包括第一层级、垂直堆叠在第一层级上方的第二层级，以及存储器电路。该存储器电路包括设置于第一层级中的位单元阵列。该存储器电路还包括列外围电路，该列外围电路具有设置于第二层级中的至少一个细长形第一部分。该存储器电路还包括行解码...
    2026-04-22
  • 存储单元以及装置、计算存储单元以及装置
    存储单元以及装置、计算存储单元以及装置_深圳先进技术研究院_202311648101.5
    本发明实施例涉及存储器技术领域，公开了一种存储单元以及装置、计算存储单元以及装置，存储单元包括第一晶体管、选通组件、反相器、第一过程控制端、第二过程控制端、信号输入端以及信号输出端；其中，选通组件根据第二过程控制信号的信号传输通路或者接地通...
    2026-04-22
  • 存储器的操作方法及存储器
    存储器的操作方法及存储器_新存科技(武汉)有限责任公司_202511808208.0
    本申请实施例提供一种存储器的操作方法及存储器。存储器包括存储单元阵列和与存储单元阵列耦接的外围电路；存储单元阵列包括多条第一地址线、多条第二地址线和多个存储单元；存储器的操作方法包括：在第一写操作的期间，对选定的第一地址线施加第一电压，对选...
    2026-04-22
  • 一种用于DNA数据存储的直接转置编码方法及相关装置
    一种用于DNA数据存储的直接转置编码方法及相关装置_广东工业大学_202610040327.4
    本发明公开了一种用于DNA数据存储的直接转置编码方法及相关装置；在本发明中，在低码率编码需求下进入第一编码模式，基于矩阵转置框架并借助标记序列作为同步参考点，有效纠正同步和替换错误；在高码率需求下进入第二编码模式，基于矩阵转置框架并在不借助...
    2026-04-22
  • 半导体器件及其操作方法、系统以及计算机可读存储介质
    半导体器件及其操作方法、系统以及计算机可读存储介质_长江存储控股股份有限公司_202411346247.9
    本公开提供了一种半导体器件及其操作方法、系统以及计算机可读存储介质，所述半导体器件包括：存储阵列；所述存储阵列包括第一存储串和第二存储串；所述第一存储串包括至少一个第一虚设存储单元；外围电路，与所述存储阵列耦接，且被配置为：对所述至少一个第...
    2026-04-22
  • 用于动态误码率估计扫描(BES)的数据存储器件和方法
    用于动态误码率估计扫描(BES)的数据存储器件和方法_闪迪技术公司_202510527684.9
    由于一个或多个因素(诸如数据保持问题和编程干扰条件)，感测到的读取阈值电压有时可能不同于写入阈值电压。在这种情况下，可使用误码率估计扫描(BES)来校准并优化读取阈值。然而，当引入更多字线时，BES可能不提供合适的校准。在此类情况下，可使用...
    2026-04-22
  • DDR5芯片量产测试的高速时序偏差校准算法
    DDR5芯片量产测试的高速时序偏差校准算法_苏州锐之芯半导体技术有限公司_202511891900.4
    本发明公开了DDR5芯片量产测试的高速时序偏差校准算法，涉及集成电路测试技术领域，包括以下步骤：S001，在眼图扫描过程中，沿时间轴叠加细粒度干扰观测带，基于观测带动态捕捉出现能量突然回撤的微缩眼图波段，并将多个微缩眼图波段顺序拼接为电磁回...
    2026-04-22
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