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  • 本申请涉及功率模块低损耗设计技术领域,特别涉及一种功率半导体模块的设计方法、装置及功率半导体模块,其中,方法包括:获取功率半导体模块的拓扑电路;设置功率半导体模块的目标参数和约束条件,根据目标参数、约束条件和拓扑电路计算芯片的过冲电压范围;...
  • 本发明提供一种支持多配置自适应切换的芯片及其配置方法,包括:功能电路;配置存储器获取位流文件,并自动存储位流文件中的配置信息;版本存储器存储芯片版本信息;初始化控制电路在芯片上电后自动从版本存储器中读取芯片版本信息,并控制功能电路根据芯片版...
  • 本发明公开一种低功耗ATPG方法、装置、芯片、芯片模组和终端设备,其低功耗ATPG方法为在不改变功能路径的前提下,对扫描链数据通路进行最小化的反相器插入/删除,使得在Shift‑0向量加载后,最大化关闭芯片内部集成时钟门控器,从而显著降低捕...
  • 本发明提供一种扫描链电路及其操作方法。扫描链电路包括多个扫描链单元。各个扫描链单元包括多个输入扫描触发器及一比较电路。多个输入位元值经由逻辑电路运算后,获得多个实际运算结果位元值。比较电路用以接收这些实际运算结果位元值及多个预设运算结果位元...
  • 本公开涉及数字电路技术领域,具体涉及公开了一种降低峰值电流的方法、装置、设备、介质及数字电路,该方法包括:获取目标电路的最大瞬时峰值电流的峰值时刻;对目标电路进行静态时序分析,获取目标电路中每条路径的到达时间和要求时间,并将要求时间减去到达...
  • 本申请提供一种集成电路时序优化方法、装置、电子设备及存储介质,应用于计算机技术领域,该方法本申请提供的集成电路时序优化方法,在提取集成电路的寄存器之后,基于集成电路的寄存器确定目标寄存器集,该目标寄存器集中包括至少两个目标寄存器,且任意两个...
  • 本公开提供了一种跨工艺角的时序修复方法、装置、设备、介质及产品,涉及人工智能领域,尤其涉及芯片领域。具体实现方案为:获取AI芯片在各工艺角下的时序违例;根据所述AI芯片在不同工艺角下的传输时延关联关系,将所述各工艺角下的时序违例分别折算至目...
  • 本申请公开了一种路径优先级的确定方法、装置、设备及存储介质,涉及芯片技术领域。该方法包括:获取芯片设计文件,芯片设计文件包括至少两条时序路径,每条时序路径用于指示从一个元器件单元到另一个元器件单元的连接路径,元器件单元包括寄存器单元,至少两...
  • 本公开提供了一种低功耗仿真方法、装置、设备、存储介质及程序产品,涉及集成电路技术领域。该方法包括:确定与待仿真芯片对应的寄存器传输级的初始综合模型;基于初始综合模型,确定与待仿真芯片对应的目标可综合模型;根据与待仿真芯片对应的初始门级网表,...
  • 本公开提供了一种芯片仿真方法及装置、电子设备、存储介质及程序产品,涉及芯片技术领域,具体涉及芯片仿真技术领域。该方法包括:确定与待测芯片对应的初始仿真用例集;确定与初始仿真用例集中的仿真用例对应的功能块描述信息;其中,功能块描述信息至少用于...
  • 本发明涉及UVM用例验证技术领域,一种基于UVM的验证用例的验证方法及系统,包括:接收用户输入信息,基于用户输入信息识别目标顶层文件,利用目标顶层文件执行编译,将用户输入信息中类的名称赋值给测试类指定参数,将赋值后的测试类指定参数替换UVM...
  • 本申请实施例提供一种芯片验证方法、装置、系统、设备、介质及程序,验证方法包括:对芯片进行仿真,芯片包括程序运行模块和内存存储模块,程序运行模块用于运行软件程序,软件程序的程序文件存储于内存存储模块;执行仿真用例,以使得程序运行模块调用程序文...
  • 本申请属于芯片技术领域,提供了一种同步静态随机存取存储器的功能验证系统和方法,系统包括顶层模块、宏定义模块、测试用例模块和验证环境模块。本申请提供的同步静态随机存取存储器的功能验证系统易维护、可复用、效率高。相关工作人员只需要在同步静态随机...
  • 本发明涉及芯片验证技术领域,尤其涉及一种多语言数据交互结构及包含其的芯片验证IP和验证系统,第一芯片模块和第二芯片模块通过所述多语言数据交互结构进行数据交互,多语言数据交互结构包括第一发送模块、第一接收模块、第二发送模块、第二接收模块和数据...
  • 本发明提供一种针对多模态电路设计规范的Verilog生成验证方法及装置,涉及人工智能技术领域。该方法包括:获取电路代码数据集,生成第一组电路图片,使用大语言模型进行自然语言描述,构建多模态电路数据集;根据Python代码生成第二组电路图片,...
  • 本发明公开了一种芯片验证方法、装置、设备及存储介质,涉及芯片验证领域,包括:基于待测芯片中的各组成模块的未赋值的输入信号和输出信号分别构建相应的子参考模型,以得到与待测芯片对应的目标参考模型;在芯片验证过程中,将输入激励信号值赋给待测芯片中...
  • 本申请公开了一种功能验证方法、装置、设备及可读存储介质,该方法包括:在多个不同维度下逐一遍历目标设计的特征属性,并利用遍历所得的特征属性逐一确定单点覆盖项;以交叉维度小于阈值为约束对单点覆盖项进行交叉组合,得到多个交叉覆盖项;确定多个单点覆...
  • 本发明提供一种集成电路的故障诊断方法及系统,涉及电路诊断技术领域,包括基于待诊断电路的有向无环图的布尔表达式计算所有预先生成的测试向量对应的理想输出值,并结合预设的实测输出集合进行故障检测;在检测到故障时,遍历有向无环图中的所有信号线,生成...
  • 本发明实施例公开一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,能够节省验证时间,提高验证效率。所述方法包括:获取验证环境和第一验证指令,其中,所述验证环境基于硬件描述语言构建,所述第一验证指令基于脚本语言构建,所述验证环境中设置有脚本解释器;...
  • 一种基于FPGA实现乘法运算的方法、计算机设备及存储介质,包括:遍历电路网表中的每个乘法单元,获取每个乘法单元的输入输出信号,并比较输入信号的位宽,确定乘数信号;按照由低到高的顺序遍历乘数信号,乘数信号的每连续三位信号生成一个对应的编码逻辑...
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