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  • 本发明公开了一种面向mRNA编码蛋白结构预测的智能算力调度系统、方法和电子设备,面向mRNA编码蛋白结构预测的智能算力调度系统包括:输入与任务管理层,用于获取并翻译mRNA序列,得到原子性子任务;智能感知与调度核心层,与输入与任务管理层连接...
  • 本发明提出一种基于可配置协议与三维基因组信息融合的基因数据高性能处理系统及方法,核心为构建68个核心编码单元的全基因序列功能化编码体系,结合Hi‑C三维基因组数据实现基因序列符号化编码与三维矩阵存储的深度融合。系统包含协议化转换、Hi‑C三...
  • 一种基于表征算法的低置信度或无序的蛋白质结构搜索方法,分别①从蛋白质结构文件中提取蛋白质序列后,通过在大型序列数据库上预训练的蛋白质语言模型提取出通用的序列嵌入后,通过序列侧附加网络得到微调之后的序列表征、②从蛋白质结构文件中提取蛋白质三级...
  • 本发明涉及医学图像处理技术领域,本发明公开了一种基因表达预测模型构建方法、装置、设备及存储介质,包括:获取多尺度多模态基因表达数据集;对数据集进行预处理、特征提取和特征增强;根据组织水平和近细胞水平的训练数据分别训练多层感知机模型得到组织水...
  • 本发明公开了一种临床宏基因组Spike‑in序列的设计方法,属于宏基因组检测领域。该方法以拟南芥基因组为序列来源,先分割为1000bp候选片段,再拆分为50bp k‑mer;通过Kraken2保守参数(最小k‑mer 匹配长度31bp、匹配...
  • 本申请提出一种缺陷筛选方法、控制器、介质及产品,应用于电子芯片技术领域,应用于缺陷筛选系统,方法包括:获取第一特征数据和待测芯片的刷新时间参数;将第一特征数据写入待测芯片,得到写入特征数据的待测芯片;对待测芯片的刷新时间参数进行修改调整,得...
  • 本发明公开了一种电压调节的DRAM系统级测试系统及其筛选方法。该系统包括测试主板、外部可编程电流源模块、上位机和控制板。测试主板集成有DRAM芯片和片上系统SoC,其中DRAM芯片的电源输入端与PMIC之间处于电气开路状态。外部电流源模块独...
  • 本发明涉及内存刷新测试技术领域,尤其涉及一种DDR5内存写入刷新操作的并行测试序列优化方法及系统,该方法通过测试设备获取目标内存模块在正常与故障状态下的历史写入刷新参数、延迟数据及错误率数据,并进行冲突检测与冗余消除;基于历史参数分析ban...
  • 本发明提供一种极低温下SRAM的探针测试方法以及测试装置,可以应用在市面上绝大多数低温测试设备上。所述方法包括以下步骤:确定测试性能指标;构建极低温测试环境;划分测试模式并执行对应测试,包括:保持工作状态测量模式、读取工作状态测量模式、以及...
  • 本发明公开了一种基于分布式架构的高端存储器芯片异步测试系统,涉及芯片测试技术领域,包括,状态建模模块,初始化主控端并接入测试端,构建存储器芯片测试任务池,结合历史测试负载及历史故障信息,分析测试端状态,生成优化调度策略;调度模块,基于优化调...
  • 本发明适用于数据识别的技术领域,提供了一种NANDFLASH芯片的测试方法及装置,所述NANDFLASH芯片的测试方法包括:基于预设测试模式对NAND型闪速存储器中的目标存储块进行加速测试操作;统计所述加速测试操作中预设累计失效率对应的失效...
  • 本公开涉及用于存储器装置中的交叉温度处置的本征温度测量。一种系统包含:存储器装置;及处理装置,其可操作地与所述存储器装置耦合以执行包含以下的操作:测量与所述存储器装置的分段相关联的读取温度度量;基于所述读取温度度量来估计读取温度;基于所述读...
  • 本发明提供一种数据处理方法、非易失性存储模块及非易失性存储器,所述方法包括:在重新上电后,第五开关元件和六开关元件输入高电平,且第七开关元件和第八开关元件输入的预充信号为高电平,以进行充电;第五开关元件和第六开关元件保持高电平,第七开关元件...
  • 计算机系统、修复存储器模块的方法以及计算机程序产品,用于存储与存储器模块中的存储器横列的后封装修复相关的数据。判断在存储器模块的存储器库组的横列中的错误。在计算机系统的初始启动时,对横列执行软件后封装修复。累加对横列执行的软件后封装修复的次...
  • 本发明公开了一种LPDDR4芯片量产读写性能测试方法及系统,涉及芯片读写性能测试技术领域,先在探针台施加高偏置温压应力并构建热分布图,为激励设定功率边界;再依据热分布图自适应调整占空比,短脉冲读写激励获取通道时序窗口;片上自测试逻辑在脉冲窗...
  • 本发明公开了用于大数据存储的固态硬盘测试方法、装置及存储介质,涉及大数据存储技术领域,本发明通过执行覆盖组件、工艺、功能、可靠性的多维度生产测试并对结果数字化评分,基于预设权重计算综合质量得分Q_total,进而抽取生产样本在模拟客户实际应...
  • 本发明公开了DDR5芯片量产测试的高速时序偏差校准算法,涉及集成电路测试技术领域,包括以下步骤:S001,在眼图扫描过程中,沿时间轴叠加细粒度干扰观测带,基于观测带动态捕捉出现能量突然回撤的微缩眼图波段,并将多个微缩眼图波段顺序拼接为电磁回...
  • 由于一个或多个因素(诸如数据保持问题和编程干扰条件),感测到的读取阈值电压有时可能不同于写入阈值电压。在这种情况下,可使用误码率估计扫描(BES)来校准并优化读取阈值。然而,当引入更多字线时,BES可能不提供合适的校准。在此类情况下,可使用...
  • 本公开提供了一种半导体器件及其操作方法、系统以及计算机可读存储介质,所述半导体器件包括:存储阵列;所述存储阵列包括第一存储串和第二存储串;所述第一存储串包括至少一个第一虚设存储单元;外围电路,与所述存储阵列耦接,且被配置为:对所述至少一个第...
  • 本发明公开了一种用于DNA数据存储的直接转置编码方法及相关装置;在本发明中,在低码率编码需求下进入第一编码模式,基于矩阵转置框架并借助标记序列作为同步参考点,有效纠正同步和替换错误;在高码率需求下进入第二编码模式,基于矩阵转置框架并在不借助...
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