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最新专利技术
  • 数据驱动的变频器开关器件老化分析方法及系统
    数据驱动的变频器开关器件老化分析方法及系统_江苏力普通瑞电力电子科技有限公司_202511887275.6
    本发明公开了数据驱动的变频器开关器件老化分析方法及系统，涉及电气测量技术领域，包括：对变频器开关器件进行实时监测获得器件监测数据集，对变频器开关器件进行多维老化关联注意力增强，获得多维老化关联增强向量，并对变频器开关器件进行多维老化状态评估...
    2026-03-20
  • 槽位地址识别方法、装置、设备及计算机可读存储介质
    槽位地址识别方法、装置、设备及计算机可读存储介质_中天宽带技术有限公司_202511870032.1
    一种槽位地址识别方法、装置、设备及计算机可读存储介质，所述方法包括：获取底板的X路输出的第一周期信号和Y路输出的第二周期信号，其中，所述第一周期信号和所述第二周期信号的频率均为预设基准周期信号频率的整数倍；根据所述第一周期信号和所述第二周期...
    2026-03-20
  • 一种基于断路器智能算法的负载类型识别方法
    一种基于断路器智能算法的负载类型识别方法_上海安睿凯智能电气有限公司_202511840178.1
    本发明公开一种基于断路器智能算法的负载类型识别方法，包括通过检测单元采集负载的暂态谐波信号、温度漂移数据等多类电参数，经去噪归一化预处理后，通过三级递进式特征计算得到暂态谐波衰减系数、电磁耦合干扰修正系数及负载特征综合判别值，与负载类型特征...
    2026-03-20
  • GIS设备内部金属颗粒危险程度识别方法、装置及介质
    GIS设备内部金属颗粒危险程度识别方法、装置及介质_南方电网电力科技股份有限公司_202511778123.2
    本发明公开了一种GIS设备内部金属颗粒危险程度识别方法、装置及介质，属于金属颗粒检测领域，所述方法为：获取工频电压下GIS设备的第一信号和第二信号；其中，所述第一信号为通过脉冲电流检测仪检测到的信号，所述第二信号为通过超声检测仪检测到的信号...
    2026-03-20
  • 气体绝缘开关设备的故障识别方法、系统、设备及介质
    气体绝缘开关设备的故障识别方法、系统、设备及介质_南方电网电力科技股份有限公司_202511778122.8
    本发明申请提供了一种气体绝缘开关设备的故障识别方法、系统、设备及介质，所述故障识别方法包括：采集气体绝缘开关设备的放电信号；通过时变滤波经验模态分解算法，对所述放电信号分解为本征模函数分量；其中，所述时变滤波经验模态分解算法的算法参数通过混...
    2026-03-20
  • 双馈变速抽水蓄能机组启停过程中定子短接开关接触不良的检测方法
    双馈变速抽水蓄能机组启停过程中定子短接开关接触不良的检测方法_南京南瑞继保工程技术有限公司_202511608106.4
    本发明公开一种双馈变速抽水蓄能机组启停过程中定子短接开关接触不良的检测方法，包括，在双馈变速抽水蓄能机组启停过程中，需要对定子短接开关接触不良进行检测时，实时采集定子三相电流信号；通过Clarke变换和双二阶广义积分器对所述三相电流信号进行...
    2026-03-20
  • 一种模拟电路的故障检测方法及系统
    一种模拟电路的故障检测方法及系统_郑州科技学院_202511863976.6
    本发明提供了一种模拟电路的故障检测方法及系统，其中方法包括：获取待测模拟电路在多种预设故障模式下输出的一维时序电压信号，并采用格拉姆角差场将所述一维时序电压信号转换为二维检测图像；获取基于双注意力残差收缩网络的预设故障检测模型，其包括双注意...
    2026-03-20
  • 一种三相桥IGBT驱动电路的测试方法及系统
    一种三相桥IGBT驱动电路的测试方法及系统_陕西开尔文测控技术有限公司_202610178878.7
    本发明涉及电路测试技术领域，具体涉及一种三相桥IGBT驱动电路的测试方法及系统，解决了现有技术中因测试条件与实际工况不匹配导致测试过程中存在无法准确评估驱动电路在动态复杂工况下性能的技术问题。该方法包括：采集三相桥IGBT驱动电路的运行数据...
    2026-03-20
  • 一种用于集成电路直流参数自动化测试的方法和系统
    一种用于集成电路直流参数自动化测试的方法和系统_成都芯飞微电科技有限公司_202610117378.2
    本发明公开了一种用于集成电路直流参数自动化测试的方法和系统，涉及电子元器件测试技术领域。被测芯片通过专用测试夹具连接测试系统主控，测试系统主控内具备可调电压源、可调激励源、可调负载。测试系统通过自动化测试程序控制并改变被测器件电压、激励、负...
    2026-03-20
  • 高温芯片温控测试装置
    高温芯片温控测试装置_南京大学_202610077540.2
    本申请提供一种高温芯片温控测试装置，包括内层和外层控温结构。外层控温结构含空气隔离罩与底部基板，空气隔离罩固定于底部基板上表面，围合形成高温内腔室；内层控温结构有芯片载台，设于高温内腔室，上表面承载芯片，且集成含多个吸附孔的真空吸附装置。内...
    2026-03-20
  • 一种光电探测器芯片的高效测试装置
    一种光电探测器芯片的高效测试装置_北京中科飞鸿科技股份有限公司_202610052806.8
    本发明涉及芯片测试设备技术领域，主要涉及一种光电探测器芯片的高效测试装置，包括移动座，所述移动座内设置有摆放框，还包括移动组件，所述移动组件带动移动座往复移动，以及设置于移动组件上方的轨道框，所述移动座上转动安装有盖板，所述盖板的底部固定有...
    2026-03-20
  • 射频模块测试系统的校准方法及射频模块测试系统
    射频模块测试系统的校准方法及射频模块测试系统_苏州华兴源创科技股份有限公司_202610034479.3
    本申请涉及一种射频模块测试系统的校准方法及射频模块测试系统，通过将仿真芯片模块安装至测试插座；并连接仿真芯片模块的第一端口及第二端口，形成第一直通路径；测量经过仿真芯片模块的第一直通路径的链路传输损耗；基于链路传输损耗对待测射频芯片测试时第...
    2026-03-20
  • 一种电源管理芯片测试设备
    一种电源管理芯片测试设备_珠海市运泰利自动化设备有限公司_202610026087.2
    本发明公开了一种电源管理芯片测试设备，旨在提供一种结构简单、接口减少，通过优化的硬件架构和测试流程，减少不必要的切换和等待时间，并支持多芯片并行测试的电源管理芯片测试设备。本发明包括测试箱体、升降平台、主板框架和测试模组，所述测试箱体与所述...
    2026-03-20
  • 一种电路板测试设备
    一种电路板测试设备_江苏森澜电子科技有限公司_202512028065.8
    本发明公开了一种电路板测试设备，涉及电路板检测领域，解决了现有电路板测试设备使用时探针的更换效率较低且使用过程中容易因为探针松动出现检测错误的问题，包括机体、第一驱动轨、第二驱动轨、检测机构和校准机构，检测机构包括检测板、插接块、探针和输送...
    2026-03-20
  • 一种基于电子设备的测试工装及方法
    一种基于电子设备的测试工装及方法_成都玖锦科技有限公司_202512017246.0
    本发明公开了一种基于电子设备的测试工装及方法，包括控制箱、呈镜像对称结构固定在控制箱顶端左右位置处的两个工件台以及在两个工件台正上方设置的台板，两个工件台相远离的一侧长度顶边皆固定有两个斜面挡块，所述控制箱的顶端安装有用于驱动台板沿竖直方向...
    2026-03-20
  • 一种多电源域芯片时序自适应测试系统及测试方法
    一种多电源域芯片时序自适应测试系统及测试方法_武汉凌久微电子有限公司_202511966598.4
    本发明提供了一种多电源域芯片时序自适应测试系统及测试方法，系统包括多个时序测试装置，每一个时序测试装置与一个GPU芯片连接，所有GPU芯片的型号相同，每一个时序测试装置包括时序控制模块、时序检测模块和结果分析模块。本发明根据本时序测试装置和...
    2026-03-20
  • 一种通用可配置的数字波束合成芯片测试系统
    一种通用可配置的数字波束合成芯片测试系统_中国船舶集团有限公司第七二三研究所_202511956388.7
    本发明公开了一种通用可配置的数字波束合成芯片测试系统，其中的系统主控板单元通过PCIE总线完成对其余各个单元的控制，时钟接口板单元完成系统内各个时钟产生与分发，保证系统内各单元工作时钟同源，信号发生板卡单元通过配置不同的参数发送多路宽带测试...
    2026-03-20
  • 基于分布式网络的芯片老炼系统及方法
    基于分布式网络的芯片老炼系统及方法_湖南长城银河科技有限公司_202511911896.3
    本发明涉及基于分布式网络的芯片老炼系统及方法，通过芯片老炼板、老炼信息处理板、网络交换机和PC端上位机的软硬件协同设计，采用基于IP的以太网架构，每个老练信息处理板均为独立的网络节点，形成了多维状态感知、网络化远程监控及分级决策保护的系统性...
    2026-03-20
  • 电子电路故障智能定位方法、装置、设备及介质
    电子电路故障智能定位方法、装置、设备及介质_重庆邮电大学_202511878217.7
    本申请涉及电子电路故障智能定位方法、装置、设备及介质。所述方法包括：先通过传感器网络采集电压、电流幅值及相位实时数据，经自适应小波滤波去噪并保留故障特征，形成多维度电气参数时间序列；以时序数据为输入，通过支持向量机识别异常模式与动态变化趋势...
    2026-03-20
  • 一种快速定位故障的芯片测试方法
    一种快速定位故障的芯片测试方法_无锡中微亿芯有限公司_202511877549.3
    本申请公开了一种快速定位故障的芯片测试方法，涉及芯片测试技术领域，该方法根据待测试芯片的IP资源分布表和各个电路层级之间的码流配置顺序，可以自动解析确定待测试芯片中各个IP资源与全芯片码流中不同码流帧之间的码流映射关系，然后通过将待测试芯片...
    2026-03-20
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