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最新专利技术
  • 一种被动微波约束的时序全极化SAR土壤湿度反演方法
    一种被动微波约束的时序全极化SAR土壤湿度反演方法_中国矿业大学_202311747392.3
    本发明公开了一种被动微波约束的时序全极化土壤湿度反演方法，属于遥感图像处理技术领域，利用时间序列被动微波观测数据，计算土壤湿度制图区域地表介电常数的时间和空间变化范围，作为未知参数解算的约束条件；利用双阶段迭代极化目标分解算法滤除植被体散射...
    2026-05-14
  • 一种标签扫描式非金属容器缺陷检测传感器、系统及方法
    一种标签扫描式非金属容器缺陷检测传感器、系统及方法_成都工业学院_202610020696.7
    本发明公开了一种标签扫描式非金属容器缺陷检测传感器、系统及方法，涉及微波无损检测技术领域。所述传感器包括介质基底、SSPPs传输线以及设置于传输线感应场区域内的高介电常数标签滑块；所述标签滑块被配置为能够沿传输线延伸方向产生相对位移以进行扫...
    2026-05-14
  • 一种基于电磁波传播的再生混凝土内部缺陷检测方法及系统
    一种基于电磁波传播的再生混凝土内部缺陷检测方法及系统_湖南城市学院_202511835985.4
    本发明提供了一种基于电磁波信号处理的再生混凝土缺陷检测方法及系统，通过发射预设频率电磁波获取初始信号数据集，采用小波变换分离高频和低频分量判断缺陷，进而应用改进的U‑Net网络结构提取空间特征，获取缺陷位置坐标，并利用神经网络分类头获取缺陷...
    2026-05-14
  • 基于可重构人工表面等离激元的微波传感系统在测量液体血糖浓度上的应用
    基于可重构人工表面等离激元的微波传感系统在测量液体血糖浓度上的应用_浙大城市学院_202610270120.6
    本发明公开基于可重构人工表面等离激元的微波传感系统在测量液体血糖浓度上的应用。该微波传感系统包括功分器、三阶宽带耦合器、衰减器、移相器及人工表面等离激元微波传感器，通过调节衰减值与相移量实现高Q值陷波，提升检测灵敏度。传感器采用带变容二极管...
    2026-05-14
  • 一种基于积分球的材料样品毫米波发射率测量系统
    一种基于积分球的材料样品毫米波发射率测量系统_华中科技大学_202610102286.7
    本发明提出一种基于积分球的材料样品毫米波发射率测量系统，属于无源微波/毫米波遥感与探测技术领域，包括：积分球、辐射源、待测样品台和辐射计天线或整机；辐射源设置于积分球的球壁内侧；待测样品台设置于积分球的内部；积分球的球壁外侧设有法兰，辐射计...
    2026-05-14
  • 一种介质测量装置及方法
    一种介质测量装置及方法_上海兰宝传感科技股份有限公司_202512057308.0
    本发明公开了一种介质测量装置及方法。包括传感器和介质测量结果确定单元；介质测量结果确定单元与传感器通信连接，用于控制传感器依次发射至少三种入射电磁波信号至待测设备；传感器，用于对接收到的入射电磁波信号以及与入射电磁波信号对应的反射电磁波信号...
    2026-05-14
  • 一种外延缺陷检验模具及方法
    一种外延缺陷检验模具及方法_西安立芯光电科技有限公司_202511955730.1
    本申请公开了一种外延缺陷检验模具及方法，属于半导体芯片流片检验技术领域，解决芯片流片检验漏检率高的技术问题，其检验模具包括版图模具、固定模具，版图模具位于固定模具通孔内，版图模具轮廓与外延片轮廓一致，版图通孔位置与外延片制作的芯片的单管位置...
    2026-05-14
  • 一种电路板焊接检测方法、系统、存储介质及智能终端
    一种电路板焊接检测方法、系统、存储介质及智能终端_宁波博信电器有限公司_202311679638.8
    本申请涉及一种电路板焊接检测方法、系统、存储介质及智能终端，涉及电路板检测技术的领域，其包括输入电路板尺寸规格；距离扫描仪对检测装置内的检测平台上进行扫描以得到距离分布图像；基于距离分布图像确定电路板摆放轮廓；基于电路板摆放轮廓确定检测仪移...
    2026-05-14
  • 一种特种设备压力管道质量检测装置
    一种特种设备压力管道质量检测装置_广州市华大金力工程技术检测有限公司_202610161816.5
    本发明提供了一种特种设备压力管道质量检测装置，属于管道检测技术领域。该一种特种设备压力管道质量检测装置包括框架和安装板，安装板安装在若干个框架之间，框架之间还安装有滑杆，框架表面安装有检测机构，用于对管道进行检测，检测机构包括视觉传感器、第...
    2026-05-14
  • 一种矿用松动圈检测设备及方法
    一种矿用松动圈检测设备及方法_西安科技大学_202410410577.3
    本发明公开了一种矿用松动圈检测设备及方法，包括探测装置、辅助装置和监测装置，探测装置安装在辅助装置内，监测装置与辅助装置连接；探测装置包括探测本体和信息传送单元，探测本体的端部设有助推杆，助推杆与探测本体螺纹连接，信息传送单元安装在探测本体...
    2026-05-14
  • 一种电缆保护管质量测定装置
    一种电缆保护管质量测定装置_河北鼎龙通讯器材有限公司_202610059860.5
    本发明公开了一种电缆保护管质量测定装置，属于电缆保护管技术领域，包括箱体、电缆保护管支撑组件、端板移动组件和限位组件，所述箱体的左端板和右端板上都设置有电缆保护管支撑组件，右端板通过端板移动组件可滑动连接在箱体上，相对的两个电缆保护管支撑组...
    2026-05-14
  • 一种电线外观检测设备
    一种电线外观检测设备_江阴市千里马电工材料有限公司_202511368781.4
    本发明提出一种电线外观检测设备，包括外观检测组件，所述外观检测组件包括由主支架和副支架连接构成的圆环形支架体，所述主支架、副支架的外侧设有四个呈环形阵列排布的影像采集检测仪，透明玻璃罩密封罩设于影像采集检测仪的影像采集端的外部，对应每个所述...
    2026-05-14
  • 一种半导体晶圆的激光打孔视觉检测设备及方法
    一种半导体晶圆的激光打孔视觉检测设备及方法_深圳市索恩达电子有限公司_202610006246.2
    本发明公开了一种半导体晶圆的激光打孔视觉检测设备及方法，包括基座和基座上端面两个对称的检测机构，两个检测机构之间设置有运载机构，运载机构包括设置在基座上端面的固定座，固定座转动连接有转台，固定座的内壁固定设置有齿环，转轴的底端套设有驱动齿轮...
    2026-05-14
  • 一种玻璃板表面贴膜视觉检测设备及其检测方法
    一种玻璃板表面贴膜视觉检测设备及其检测方法_苏州亿迈视光电科技有限公司_202511889325.4
    本发明公开一种玻璃板表面贴膜视觉检测设备及其检测方法，涉及视觉检测技术领域，设备包括承载台、平移机构、移载模组、视觉机构及光学模组：承载台设有磁吸可拆卸的定位块，用于玻璃板直角精确定位；平移机构驱动承载台水平移动；移载模组可沿水平及竖直方向...
    2026-05-14
  • 一种密封件快速检测装置
    一种密封件快速检测装置_三峡物资招标管理有限公司_202511868610.8
    本发明公开了一种密封件快速检测装置，包括摄像检测装置、用于挂载摄像检测装置的可移动横梁以及承载待检测密封件的密封件检测柜体；可移动横梁可前后移动，密封件检测柜体的一侧连接有系统操作终端，系统操作终端包含电脑屏幕、键盘和鼠标，用于操控检测装置...
    2026-05-14
  • 多模态双流算法的电缆沟巡检电缆缺陷检测方法
    多模态双流算法的电缆沟巡检电缆缺陷检测方法_中国长江电力股份有限公司_202511839852.4
    多模态双流算法的电缆沟巡检电缆缺陷检测方法，属于智能机器人与机器视觉技术领域，旨在解决传统巡检安全性差、实时性不足及自动化检测精度低、鲁棒性弱的问题。该方法依托巡检机器人搭载的多模态成像系统，同步采集可见光与红外热成像图像，构建双流水线检测...
    2026-05-14
  • 基于光热监测的Mini LED缺陷定位与返修方法及系统
    基于光热监测的Mini LED缺陷定位与返修方法及系统_东莞市鼎力自动化科技有限公司_202511743001.X
    本发明涉及微电子器件检测与返修，一种基于光热监测的Mini LED缺陷定位与返修方法及系统，包括：获取显示电路板、高分辨率相机、可调制激光源、红外热像仪及返修工具头，基于初始光学图像集确认出多个亮度均匀指数及粗略位置坐标集，利用红外热像仪对...
    2026-05-14
  • 一种晶圆缺陷检测方法、系统及可读存储介质
    一种晶圆缺陷检测方法、系统及可读存储介质_聚时科技(上海)有限公司_202511696897.0
    本申请涉及半导体前道检测技术领域，为一种缺陷定位方法，具体为一种晶圆缺陷检测方法、系统及可读存储介质。本申请实施例通过获取单个信号区域内多个子区域内的信号分布状态，并根据子区域的空间分布关系对每个子区域内的光学信号强度数据进行编辑存储，形成...
    2026-05-14
  • 光学检测装置和检测方法
    光学检测装置和检测方法_荣耀终端股份有限公司_202411368733.0
    本申请提供一种光学检测装置和检测方法，用于解决现有的检测装置扫描检测效率低的问题。本申请提供的光学检测装置包括相机模组、第一平面反射镜和第一驱动机构。第一平面反射镜设于相机模组的入光侧，用于将自身接收到的光线反射至相机模组中。第一驱动机构与...
    2026-05-14
  • 晶圆检测系统及检测方法
    晶圆检测系统及检测方法_鉴微半导体设备(南京)有限公司_202411345878.9
    本发明涉及晶圆检测系统及检测方法。晶圆检测系统可以包括：样品台；光源系统；第一入射部；非相干光探测部，其包括：物镜、第一非相干光探测部，其用于探测第一光信号并输出第一电信号；第二非相干光探测部，其用于探测第二光信号并输出第二电信号；第三非相...
    2026-05-14
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