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最新专利技术
  • 继电器粘连检测电路、方法及用电设备
    继电器粘连检测电路、方法及用电设备_深圳市倍思科技有限公司_202410840321.6
    本公开实施例提供了一种继电器粘连检测电路、方法及用电设备，属于用电安全技术领域。继电器粘连检测电路包括：主控板，主控板上设置有第一电压检测单元和接地端，第一电压检测单元与市电线的零线输出端电连接；检测开关，检测开关的一端与地线电连接，检测开...
    2026-02-28
  • 一种晶振芯片测试方法
    一种晶振芯片测试方法_宁波晶创科技有限公司_202511746771.X
    本发明涉及一种晶振芯片测试方法，包括以下步骤：构建晶振芯片的数字孪生模型，并在其中插入扫描链；将扫描链的扫描输出和晶振的电信号融合成为多维晶振特征；通过扫描链对所述数字孪生模型注入正常样本，获得无故障情况下的所述多维晶振特征作为训练数据，训...
    2026-02-28
  • 一种智能穿戴设备负载续航的测试方法、系统、电子设备
    一种智能穿戴设备负载续航的测试方法、系统、电子设备_珠海妙存科技有限公司_202511115507.6
    本申请公开了一种智能穿戴设备负载续航的测试方法、系统、电子设备，涉及设备测试技术领域，该方法包括：与待测试的智能穿戴设备建议串口通讯连接，并向智能穿戴设备发送测试脚本，以控制智能穿戴设备进入调试模式；在智能穿戴设备为满电状态时，向预设的测试...
    2026-02-28
  • GSM功率放大器的检测系统、方法及存储介质
    GSM功率放大器的检测系统、方法及存储介质_深圳飞骧科技股份有限公司_202511759928.2
    本发明提供了一种GSM功率放大器的检测系统、方法及存储介质，所述检测系统用于对待测芯片中的GSM功率放大器的性能参数进行测试，所述性能参数包含功率参数和谐波参数，所述检测系统包括：射频信号源、MIPI控制器、外置定向耦合器、滤波器、功率计、...
    2026-02-28
  • 相位噪声分析方法、装置、设备与存储介质
    相位噪声分析方法、装置、设备与存储介质_北京超摩科技有限公司_202511757192.5
    本申请提供了一种相位噪声分析方法、装置、设备与存储介质，该方法应用于芯片领域。该方法包括：确定芯片中经过待测试部件的至少两条目标信号路径；对至少两条目标信号路径对应的目标信号数据进行互相关运算，得到互相关结果；基于互相关结果，确定互相关结果...
    2026-02-28
  • 故障检测方法、控制装置及故障检测设备
    故障检测方法、控制装置及故障检测设备_深圳市天任顺华科技有限公司_202511735937.8
    本申请提出了故障检测方法、控制装置及故障检测设备，涉及故障检测技术领域，该故障检测方法包括：获取待检测算力板的属性信息；显示与属性信息对应的至少一个算力板模型效果图；算力板模型效果图与待检测算力板的参数之间存在映射关系；响应于对待检测算力板...
    2026-02-28
  • 基于多参数分析的芯片封装测试方法及系统
    基于多参数分析的芯片封装测试方法及系统_深圳市立能威微电子有限公司_202511580929.0
    本发明提供了一种基于多参数分析的芯片封装测试方法及系统，涉及智能芯片封装测试领域，其通过采集芯片金属桥接层的电流密度参数和热应力参数，利用傅里叶热传导方程计算温度梯度分布图，标定高温区域，并结合交变电流载荷下的电阻率漂移曲线和离子迁移速率修...
    2026-02-28
  • 探针卡超高温环境下稳定测试辅助装置
    探针卡超高温环境下稳定测试辅助装置_苏州矽利康测试系统有限公司_202511570012.2
    本申请公开了一种探针卡超高温环境下稳定测试辅助装置，涉及探针卡辅助测试的技术领域。一种探针卡超高温环境下稳定测试辅助装置，包括依次叠设的第一锁定板、PCB板和第二锁定板，所述第一锁定板和所述第二锁定板将所述PCB板抵压锁定；所述PCB板具有...
    2026-02-28
  • 一种适用于SPDS器件的测试模具及测试方法
    一种适用于SPDS器件的测试模具及测试方法_芯派科技股份有限公司_202511550877.2
    本发明提供一种适用于SPDS器件的测试模具及测试方法，包括测试底座、测试盖板、电极板、引出线和测试固定机构；测试底座上设置有凹槽，电极板设置在凹槽内，用于放置待测试件；测试盖板固定设置在测试底座上，且测试盖板开设有用于取放待测试件的窗口；测...
    2026-02-28
  • 一种芯片高低温气流测试机
    一种芯片高低温气流测试机_思拓玛试验仪器(广东)有限公司_202511550869.8
    本发明涉及芯片测试机技术领域，具体为一种芯片高低温气流测试机，包括热流仪、测试台和测试头组件，其中：测试头组件包括轮盘、测试管、测试插座和自驱动结构，轮盘绕一轴线X可旋转地设于测试台上，轮盘具有沿自身周向布置的多个测试位，测试位安装有测试插...
    2026-02-28
  • 一种基于电流波形识别的电路快速故障检测装置及方法
    一种基于电流波形识别的电路快速故障检测装置及方法_青岛中鸿重型机械股份有限公司_202511499731.X
    本申请涉及电路故障诊断技术领域，公开了一种基于电流波形识别的电路快速故障检测装置及方法，该装置包括：检测探头、主机、信号调理模块、数据采集模块、数据分析处理模块、显示单元、通信模块。该方法包括：利用模型处理数字化电流波形数据以生成重建波形；...
    2026-02-28
  • 一种多工序集成化测试设备
    一种多工序集成化测试设备_燕麦(杭州)智能制造有限公司_202511497835.7
    本发明适用于FPC测试技术领域，提供了一种多工序集成化测试设备。所述多工序集成化测试设备分为三个空间区域：第一区域，内设置有用于运送上料和下料FPC工件的流水线组件；第二区域，内设置有沿着所述流水线组件的平行方向依次设置的若干个检测工站；第...
    2026-02-28
  • 一种用于芯片测试的热流仪
    一种用于芯片测试的热流仪_思拓玛试验仪器(广东)有限公司_202511486785.2
    本申请提供一种用于芯片测试的热流仪，属于热流仪领域，包括框架，框架的底部一侧设置有制冷组件，框架的底部另一侧设置有空压机，框架的顶部中间位置设置有壳体，底部镂空的壳体中部设置有检测台，检测台的四周均设置有气流通道。本发明中，通过设置安装座与...
    2026-02-28
  • 一种多引脚芯片定位检测夹具
    一种多引脚芯片定位检测夹具_天津市滨海新区启帆数据信息技术有限公司_202511477974.3
    本发明公开了一种多引脚芯片定位检测夹具，本发明涉及检测夹具技术领域，包括检测台，所述检测台底部固定连接有四个支撑杆，所述检测台顶部固定连接有挡板，所述检测台顶部开设有两个滑动槽，其中一个所述滑动槽内转动连接有双向丝杆，所述双向丝杆一端贯穿检...
    2026-02-28
  • 一种基于多维数据的柔性线路板测试方法及系统
    一种基于多维数据的柔性线路板测试方法及系统_深圳市吉昌盛电路技术有限公司_202511453852.0
    本申请提供一种基于多维数据的柔性线路板测试方法及系统。方法包括：采集弯折过程中的电阻信号与角度数据，构成初始数据集；采用支持向量机对电阻变化与角度模式分类，获得电阻角度关联组；通过聚类分析划分信号衰减序列的疲劳阶段，得到分阶段衰减集群；对非...
    2026-02-28
  • 具有测试元件组的半导体器件及其测试方法
    具有测试元件组的半导体器件及其测试方法_豪威半导体(上海)有限责任公司_202511439253.3
    本发明提供一种具有测试元件组的半导体器件及其测试方法，衬底上的划片槽内设置有测试元件组；测试元件组邻近的N个芯片共用测试元件组，N≥2；测试元件组中设置有测试电路，测试电路包含相位译码器。本发明为基于相位识别的若干芯片共享测试元件组，可有效...
    2026-02-28
  • 一种延期执行电路功能参数自动测试方法
    一种延期执行电路功能参数自动测试方法_华东光电集成器件研究所_202511411607.3
    本发明的一种延期执行电路功能参数自动测试方法，该方法包括：构建测试系统，进行系统自检；若系统自检通过，进行延期电路参数测试；对延期电测参数测试结果进行评估，并将评估结果生成数据汇总表；对数据汇总表进行评估，根据评估结果进行数据处理并结束参数...
    2026-02-28
  • 芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质
    芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质_北京玄戒技术有限公司_202511386931.4
    本申请提出一种芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质，涉及芯片领域，其中，方法包括：基于多个供电参数对芯片中的传感器进行供电，以得到传感器在多个供电参数下的输出参数；确定至少一组供电参数对，及供电参数对中各供电参数对应的输出参数；其中...
    2026-02-28
  • 一种探针卡测试装置
    一种探针卡测试装置_南京科兴半导体检测设备有限公司_202511351376.1
    本发明公开了一种探针卡测试装置，具体涉及芯片检测技术领域，包括探针卡组件、晶圆固定台和检测驱动单元，探针卡组件由底板、固定基板和柔性PCB板组成，固定基板安装在底板上，柔性PCB板固定安装在固定基板上，底板上还安装有保护罩，探针单元包括浮动...
    2026-02-28
  • 一种高低寿命测试的问题定位方法及系统
    一种高低寿命测试的问题定位方法及系统_深圳市汇春科技股份有限公司_202511330706.9
    本发明公开了一种高低寿命测试的问题定位方法及系统，属于芯片测试技术领域，通过获取硬件初始化程序中的待测芯片的多个IP测试程序，并记录测试开始的时间信息和自锁检测机制，检测待测芯片在自检测机制中的复位信号，并将复位信号与预设异常复位信号进行匹...
    2026-02-28
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