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最新专利技术
  • 一种多板卡并行测试方法、系统和计算机可读存储介质
    一种多板卡并行测试方法、系统和计算机可读存储介质_杭州御渡半导体科技有限公司_202511626098.6
    本发明属于半导体设备测试领域，具体公开了一种多板卡并行测试方法、系统和计算机可读存储介质，兼具了灵活性与高效性。所述方法包括：配置一测试流程，测试流程内包括多个测试项，测试项内包括多个测试动作；第一测试模式发送单个高级指令来启动整个测试项，...
    2026-05-11
  • 一种MEMS芯片测试方法、装置、设备及存储介质
    一种MEMS芯片测试方法、装置、设备及存储介质_歌尔微电子股份有限公司_202511591052.5
    本申请提供一种MEMS芯片测试方法、装置、设备及存储介质，其中方法包括：针对每一颗待测试的MEMS芯片，在该芯片表面选取多个区域，分别对所述多个区域进行电容测试，得到每个区域对应的吸合电压VP值；对所述多个区域的VP值进行平均值计算，得到所...
    2026-05-11
  • 内置自测试系统
    内置自测试系统_瑞萨电子株式会社_202511385347.7
    本公开涉及内置自测试系统。提供了一种用于电子电路的内置自测试(BIST)系统。该系统包括测试电路装置和时钟电路。测试电路装置对电子电路应用测试过程。时钟电路被配置为向测试电路装置提供时钟信号，并且调节时钟信号的时钟频率。
    2026-05-11
  • 一种基于智能取水机硬件的诊断分析装置
    一种基于智能取水机硬件的诊断分析装置_杭州智缤科技有限公司_202311741078.4
    本申请公开了一种基于智能取水机硬件的诊断分析装置，能够提供多个测试仓位来进行批量化的检测操作，同一时间内允许数个设备开展相关的硬件诊断分析操作，同时从设备外围只需要简单对硬件主控板安置摆放即可，后续便可以开展分析操作。在测试过程中，将完成I...
    2026-05-11
  • 一种晶体振荡器单粒子效应试验测试系统
    一种晶体振荡器单粒子效应试验测试系统_北京无线电计量测试研究所_202511834476.X
    本公开的实施例提供一种晶体振荡器单粒子效应试验测试系统。在一具体实施方式中，该系统包括：真空靶室、数字电源、数字开关控制器、测试终端以及频率计数器；真空靶室为多个待测晶体振荡器提供真空环境；真空靶室内设置有粒子束流线；测试终端控制数字开关控...
    2026-05-11
  • 基于米勒平台电压的功率半导体在线结温监测方法及系统
    基于米勒平台电压的功率半导体在线结温监测方法及系统_湖南大学_202610268111.3
    本发明提供一种基于米勒平台电压的功率半导体在线结温监测方法及系统。功率半导体在线结温监测方法包括：步骤S1：利用下式计算当前开关周期的米勒平台电压差值ΔVMP：ΔVMP=VMP, on‑VMP, off；其中，VMP, on为功率半导体在当...
    2026-05-11
  • 温控系统及封装测试方法
    温控系统及封装测试方法_上海伟测半导体科技股份有限公司_202610250586.X
    本公开实施例中提供了温控系统以及封装测试方法，包括：罩体的底部开口供密闭地接合于测试机；第一仓体，可拆卸地嵌合设置于第一安装缺口且具有可开闭的第一出入口，并设有延伸至罩体外的第一连通部；第二仓体，可拆卸地嵌合设置于第二安装缺口且具有可开闭的...
    2026-05-11
  • 一种半导体器件用高温高湿反偏试验设备
    一种半导体器件用高温高湿反偏试验设备_重庆市渝北区教师进修学院_202610172344.3
    本发明公开了一种半导体器件用高温高湿反偏试验设备，涉及半导体器件试验技术领域，包括试验箱，所述试验箱的前侧设置有箱门，所述试验箱的内侧设置有试验单元，所述试验箱的内侧固定连接有进风箱，所述试验箱的右侧固定连接有蒸汽发生器、风机一与风机二，所...
    2026-05-11
  • 检测开关电路中功率管是否发生故障的方法以及驱动系统
    检测开关电路中功率管是否发生故障的方法以及驱动系统_上海纳矽微电子有限公司_202610148848.1
    提供了用于检测开关电路中功率管是否发生故障的方法和驱动系统，该开关电路包括检测回路，检测回路包括被测器件组和辅助器件组，被测器件组包括被测功率管，并且辅助器件组包括辅助功率管，该方法包括：控制被测功率管导通；以第一电压值控制辅助功率管导通，...
    2026-05-11
  • 检测开关电路中功率管是否发生故障的方法以及驱动系统
    检测开关电路中功率管是否发生故障的方法以及驱动系统_上海纳矽微电子有限公司_202610148419.4
    提供了一种用于检测开关电路中功率管是否发生故障的方法和驱动系统。开关电路包括检测回路，检测回路包括被测器件组和辅助器件组，被测器件组包括被测功率管，辅助器件组包括辅助功率管，所述方法包括：控制被测功率管导通；以第一电压值控制辅助功率管导通，...
    2026-05-11
  • 一种低导通电阻屏蔽栅沟槽MOSFET故障诊断方法及系统
    一种低导通电阻屏蔽栅沟槽MOSFET故障诊断方法及系统_深圳市鑫研半导体有限公司_202610103230.3
    本申请提供的一种低导通电阻屏蔽栅沟槽MOSFET故障诊断方法及系统，涉及MOSFET故障诊断技术领域，通过在测量MOSFET稳态导通电阻之前，向探针与晶圆焊盘的接触界面以及MOSFET施加预先设定的瞬态电学激励；根据获取的接触界面和MOSF...
    2026-05-11
  • 实时批量检测LD芯片结温的系统、方法
    实时批量检测LD芯片结温的系统、方法_北京凯普林光电科技股份有限公司_202610099098.3
    本申请公开了一种实时批量检测LD芯片结温的系统、方法，所述系统包括老化和测试设备、MEMS光开关、声光可调谐滤波器以及PD，所述老化和测试设备包括多个老化测试模组，所述系统还包括实时运算、处理和控制单元RTOPCU，还用于控制每个所述老化测...
    2026-05-11
  • 一种GaN器件动态导通电阻测量误差抑制方法和系统
    一种GaN器件动态导通电阻测量误差抑制方法和系统_重庆联晶通半导体科技有限公司_202610072803.0
    本发明涉及半导体器件测试技术领域，具体是一种GaN器件动态导通电阻测量误差抑制方法和系统。所述方法包括：基于预定的测试回路，获取GaN器件一个开关周期的导通电压波形、栅压波形和漏极电流波形；基于栅压波形和漏极电流波形分别计算栅极馈通理论误差...
    2026-05-11
  • 基于漏源极电压及其变化率的晶体管短路检测电路和短路保护方法
    基于漏源极电压及其变化率的晶体管短路检测电路和短路保护方法_南京航空航天大学_202512034039.6
    本发明提供一种基于漏源极电压及其变化率的晶体管短路检测电路，包括传感电路、逻辑判断电路、隔离锁存电路、数字信号处理器和栅极驱动器；本发明利用了在故障期间高Vds与正dv/dt同时出现的特性，提出以高vds与正dv/dt同时出现作为短路故障的...
    2026-05-11
  • 一种功率模块寿命监控装置、方法、电机控制器及车辆
    一种功率模块寿命监控装置、方法、电机控制器及车辆_辰致汽车科技集团有限公司上海驰驱智能控制技术分公司_202512029665.6
    本发明涉及一种功率模块寿命监控装置、方法、电机控制器及车辆，包括输入电源、驱动供电单元、功率开关单元、纹波提取放大单元、温度采集单元及MCU控制器；驱动供电单元用于为功率开关单元提供驱动需求的电压；功率开关单元用于实现高压电路的通断控制；纹...
    2026-05-11
  • 一种双脉冲测试方法、装置、设备及存储介质
    一种双脉冲测试方法、装置、设备及存储介质_黑龙江汇芯半导体有限公司_202512014442.2
    本发明涉及电子技术领域，本发明公开了一种双脉冲测试方法、装置、设备及存储介质，包括获取被测器件的多源特征信息以生成器件特征码；基于器件特征码进行双脉冲测试，并在测试过程采集被测器件的时频域数据；对时频域数据进行振荡特征识别，以得到振荡特征数...
    2026-05-11
  • 一种全自动探针平台用的控制系统及其方法
    一种全自动探针平台用的控制系统及其方法_经纬光学科技(苏州)有限公司_202512009679.1
    本发明公开了一种全自动探针平台用的控制系统及其方法，涉及半导体制造与测试设备技术领域，包括接触事件感知处理模块：通过连接测试机信号输出接口，对选定的测试通道施加直流偏压，并持续以高采样率监测回路电流，生成电气反馈信号，并实时计算电气反馈信号...
    2026-05-11
  • 一种霍尔器件同测方法及系统
    一种霍尔器件同测方法及系统_普冉半导体(上海)股份有限公司_202511949955.6
    本发明提供了一种霍尔器件同测方法及系统，该方法包括：构建校准测试环境，使用测试针卡和标准晶圆进行全片测试，获得与所述测试针卡对应的各个测试位的霍尔值；根据各个测试位的霍尔值计算获得各个测试位对应的第一场强系数；构建量产测试环境，并使用所述测...
    2026-05-11
  • 一种半导体制冷片的功耗检测系统及方法
    一种半导体制冷片的功耗检测系统及方法_广东富信热电器件科技有限公司_202511932447.7
    本发明公开了一种半导体制冷片的功耗检测系统及方法，功耗检测系统包括真空干燥箱和检测装置；检测装置包括支撑立柱、上检测组件、热负载模块、导热块和下检测组件；上检测组件和下检测组件由上至下安装于支撑立柱的同一侧，且上检测组件和下检测组件均相对于...
    2026-05-11
  • 电离辐射总剂量与电磁脉冲协和效应的测试方法、电路、系统和介质
    电离辐射总剂量与电磁脉冲协和效应的测试方法、电路、系统和介质_清华大学_202511903726.0
    一种电离辐射总剂量与电磁脉冲协和效应的测试方法、电路、系统和介质，涉及抗核与辐射加固技术领域，其中，方法包括：获取辐照前的待测晶体管的电特性曲线以及在单次电磁脉冲作用下的响应波形；对待测晶体管进行至少一次预设剂量的辐照，直至待测晶体管的累计...
    2026-05-11
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