恭喜本征信息技术(苏州)有限公司陈惕生获国家专利权
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龙图腾网恭喜本征信息技术(苏州)有限公司申请的专利多层单元NAND闪存的一种操作方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN110364209B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2024-07-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201910756167.3,技术领域涉及:G11C16/26;该发明授权多层单元NAND闪存的一种操作方法是由陈惕生;耿志远设计研发完成,并于2019-08-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本多层单元NAND闪存的一种操作方法在说明书摘要公布了:本发明提供了多层单元NAND闪存的一种操作方法。在一次感测操作中,通过调整NAND串的源极电压以改变待测单元的栅极电压与源极电压的电压差,并检查NAND串的导通情况,可以判断待测单元阈值电压与该电压差的大小关系。在读取数据操作中,根据多次上述感测操作的比较结果,可以确定待测单元中存储的待读数据比特。与不同位线相连的NAND串连接至可独立调整的源极信号,因而可以实现与待测单元状态有关的感测,包括基于调整源极电压的二分串行感测。在编程操作的校验步骤中,可根据目标值调整每个位线对应的源极信号电压,只需一次感测操作,即可完成校验。
本发明授权多层单元NAND闪存的一种操作方法在权利要求书中公布了:1.多层单元NAND闪存的一种读取数据的方法,包括:向待测块中的待测字线加较低的栅极电压,向待测块中的其它字线加较高的栅极电压,使其它字线的存储单元导通;以及不断改变待测块中的各个NAND串的源极电压,并观察NAND串是否导通,直至确定待测单元中的待读数据;其特征在于,通过调整NAND串的源极电压来改变待测单元栅极与源极间的电压差,而不是固定NAND串的源极电压、调整字线的栅极电压来改变待测单元栅极与源极的电压差,与不同位线相连的NAND串的源极连接至独立的源极信号,其电压可以独立调整,而不是所有NAND串连接至同一个共享的源极信号。
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