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龙图腾网恭喜上海师范大学申请的专利一种正入射式透射光相位信息表征光路系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111678894B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2024-07-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010607230.X，技术领域涉及：G01N21/59；该发明授权一种正入射式透射光相位信息表征光路系统及方法是由刘锋;李晓温;徐笛瑞;俞伟伟;许昊;郝加明设计研发完成，并于2020-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种正入射式透射光相位信息表征光路系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种正入射式透射光相位信息表征光路系统及方法，该光路系统由光路a与光路b两部分光路组成，包括：激光器、起偏器、第一偏振分束器、第一反射镜、第一样品台、第二反射镜、第二样品台、第二偏振分束器、14波片、检偏器、衰减器、探测器。光束经过第一偏振分束器后分为光路a与光路b，汇聚与第二偏振分束器。本光路系统可以同时测量样品透射光的强度信息和相位信息，即可获取透射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。

本发明授权一种正入射式透射光相位信息表征光路系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种正入射式透射光相位信息表征光路系统，其特征在于，包括：光源发射器，用于发射光源；起偏器2，用于将所述光源发射器发射的光源形成偏振光；第一偏振分束器3，用于将所述偏振光分成两束光路：光路a与光路b；第一反射镜4，设于所述光路a中；第一样品台5，用于放置被测样品或标准样件；第二反射镜6，设于所述光路b中；第二样品台7，用于放置标准样件或被测样品；第二偏振分束器8，用于汇合所述被测样品及标准样件的透射光；及透射光检测单元，使携带样品信息的测试光和参考光发生相干干涉，通过探测光谱强度计算相位信息；所述光路a的光经过所述第一反射镜4后经过所述第一样品台5上的被测样品或标准样件进入第二偏振分束器8，所述光路b的光经过所述第二反射镜6后经过所述第二样品台7上的标准样件或被测样品进入第二偏振分束器8，汇合后的两束光同时出射经过所述透射光检测单元；所述透射光检测单元包括依次设置的14波片9、检偏器10、衰减器11和探测器12，汇合后的两束光同时出射经过所述透射光检测单元，依次经过所述14波片9及检偏器10，所述14波片9与检偏器10对光进行调制，之后再经过所述衰减器11，进入所述探测器12；所述光路a与光路b相互垂直。

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