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恭喜深圳市鼎泰佳创科技有限公司梁远文获国家专利权

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龙图腾网恭喜深圳市鼎泰佳创科技有限公司申请的专利电源的老化测试系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN110208720B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2024-09-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201910565823.1,技术领域涉及:G01R31/40;该发明授权电源的老化测试系统及方法是由梁远文;黄维;何富荣设计研发完成,并于2019-06-26向国家知识产权局提交的专利申请。

电源的老化测试系统及方法在说明书摘要公布了:本申请公开了一种电源的老化测试系统及方法,该系统包括测试装置,所述测试装置上设置有多个待测产品,每个所述待测产品包括至少两路电源输出;所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵,所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路,所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路,每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接,以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。通过上述电源的老化测试系统,能够提升电源的老化测试的测试效率,并且降低成本。

本发明授权电源的老化测试系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种电源的老化测试系统,其特征在于,包括测试装置,所述测试装置上设置有多个待测产品,每个所述待测产品包括至少两路电源输出;所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵,所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路,所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路,每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接,以形成对所述一路串联输出回路的老化测试;其中,将多个待测产品按照行、列分布组成一个第一矩阵;根据所述待测产品的电源输出路数,对第一矩阵进行分解,以基于所述待测产品的电源输出路数组成多个所述矩阵,使得待测产品的每一路电源输出都能够形成串联,每个所述矩阵中形成的每一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接;所述待测产品包括第一路电源输出和第二路电源输出,基于所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵,其中M、N≥2;所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的第一路电源输出依次串联,形成M路串联输出回路;所述M*N矩阵中每一列的所述待测产品的第二路电源输出依次串联,形成N路串联输出回路;基于所述待测产品的两路电源输出形成N+M路串联输出回路。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深圳市鼎泰佳创科技有限公司,其通讯地址为:518000 广东省深圳市光明新区公明街道长圳社区长兴科技工业园10栋二楼(东)、20栋一楼(东);或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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