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恭喜北京自动测试技术研究所蒋常斌获国家专利权

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龙图腾网恭喜北京自动测试技术研究所申请的专利一种片上系统芯片的测试方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN111025134B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2024-11-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201911401980.5,技术领域涉及:G01R31/3185;该发明授权一种片上系统芯片的测试方法及系统是由蒋常斌设计研发完成,并于2019-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

一种片上系统芯片的测试方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种片上系统芯片的测试方法及系统。该方法对基于高速串行链路连接的第一适配器和第二适配器,进行诊断和校准;诊断校准完成后,通过第一适配器逐个获得每个待测片上系统芯片的测试激励矢量和期望矢量,并基于高速串行链路将测试激励矢量压缩打包后传输到第二适配器,得到某个待测片上系统芯片的测试激励矢量;对得到的测试激励矢量进行校验,如果校验通过,则将测试激励矢量相应地传输至对应的待测片上系统芯片的输入引脚,以完成测试。该方法用高速串行传输媒介代替传统的测试电缆,并且对测试激励矢量串行化后压缩并加入校验机制,使得测试激励矢量到待测片上系统芯片的输入引脚映射不仅是完全可编程的,而且还保证测试结果的准确性。

本发明授权一种片上系统芯片的测试方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种片上系统芯片的测试方法,其特征在于包括如下步骤:步骤S1:根据每个待测片上系统芯片的测试具体要求,分别定制第一适配器和第二适配器,并基于高速串行链路将两个适配器建立连接;步骤S2:对基于所述高速串行链路连接的所述第一适配器和所述第二适配器,进行诊断校准;其中,通过所述第一适配器获得诊断矢量,所述诊断矢量经串化压缩并加入校验码后传输到所述第二适配器进行校验;所述第一适配器根据所述第二适配器返回的诊断矢量判断诊断是否通过;如果诊断失败,则调整所述第一适配器的频率和相位后,继续通过所述第一适配器获得诊断矢量,直至诊断校准完成;步骤S3:诊断校准完成后,通过所述第一适配器逐个获得每个所述待测片上系统芯片的测试激励矢量和期望矢量,并基于所述高速串行链路将所述测试激励矢量和所述期望矢量压缩打包后传输到所述第二适配器,得到某个待测片上系统芯片的测试激励矢量和期望矢量;步骤S4:对得到的测试激励矢量进行校验,如果校验通过,则将所述测试激励矢量相应地传输至对应的待测片上系统芯片的输入引脚,以完成测试。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京自动测试技术研究所,其通讯地址为:100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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