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龙图腾网恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司申请的专利一种芯片测试的方法、系统、介质及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119291481B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411833041.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片测试的方法、系统、介质及设备是由赖建生;沈梅;赖璟设计研发完成，并于2024-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试的方法、系统、介质及设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片测试的方法、系统、介质及设备，涉及芯片测试电数字数据处理技术领域。该方法，包括以下步骤：根据芯片第一性能对比分析结果对芯片判断进行老化测试或返修；根据芯片第二性能对比分析结果判断确定芯片老化测试流程或返修；根据芯片第三性能对比分析结果判断确定芯片老化测试结果层级。本发明通过分别对动态随机存取存储器芯片进行性能评估分析、稳定性分析评估和综合测试分析评估，根据分析评估结果与对应阈值的对比分析综合判断芯片老化测试结果层级，达到了提高动态随机存取存储器芯片老化测试评估判断准确性的效果，解决了现有技术中存在对于动态随机存取存储器芯片老化测试评估判断准确性不足的问题。

本发明授权一种芯片测试的方法、系统、介质及设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：对初次激活后的芯片进行性能评估分析，得到芯片第一评估分析结果，将芯片第一评估分析结果与对应的预设芯片第一评估分析阈值对比分析，得到芯片第一性能对比分析结果，根据芯片第一性能对比分析结果对芯片判断进行老化测试或返修；对老化测试的芯片进行稳定性分析评估，得到芯片第二评估分析结果，将芯片第二评估分析结果与对应的预设芯片第二评估分析阈值对比分析，得到芯片第二性能对比分析结果，根据芯片第二性能对比分析结果判断确定芯片老化测试流程或返修；对芯片进行综合测试分析评估，得到芯片第三评估分析结果，将芯片第三评估分析结果与对应的预设芯片第三评估分析阈值对比分析，根据芯片第三性能对比分析结果判断确定芯片老化测试结果层级；所述得到芯片第三评估分析结果的具体过程为：对芯片第一性能对比分析结果和芯片第一性能对比分析结果通过分析公式综合分析得到芯片第三评估分析结果，具体分析公式如下： ； 表示芯片老化综合波动指数，即为芯片第三评估分析结果，表示第个芯片老化稳定性计时时间点下的芯片老化稳定性评估指数；表示芯片激活性能负向评估指数；表示自然常数，为从数据库中获取的预设的芯片老化稳定性评估指数权重因子，为从数据库中获取的预设的芯片激活性能负向评估指数权重因子，表示芯片老化稳定性计时时间点的编号，，表示芯片老化稳定性计时时间点的编号总数。

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