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龙图腾网恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司申请的专利芯片测试方法及电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119068957B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411545475.9，技术领域涉及：G11C29/04；该发明授权芯片测试方法及电路是由赖俊生设计研发完成，并于2024-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法及电路在说明书摘要公布了：本发明提供一种芯片测试方法及电路，其中的芯片测试方法包括：获取待检测芯片的眼图，并基于所述眼图获取基准测试点以及位于所述基准测试点周围的至少一个边缘测试点；基于测试数据信号对所述基准测试点和所述边缘测试点进行检测，并分别输出所述基准测试点和所述边缘测试点的检测结果；根据所述基准测试点和所述边缘测试点的检测结果确定所述待检测芯片的上下限值是否满足要求。利用上述发明能够有效的提高芯片的边缘测试效率及准确度。

本发明授权芯片测试方法及电路在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：获取待检测芯片的眼图，并基于所述眼图获取基准测试点以及位于所述基准测试点周围的至少一个边缘测试点；基于测试数据信号对所述基准测试点和所述边缘测试点进行检测，并分别输出所述基准测试点和所述边缘测试点的检测结果；根据所述基准测试点和所述边缘测试点的检测结果确定所述待检测芯片的上下限值是否满足要求；所述边缘测试点包括第一边缘测试点、第二边缘测试点、第三边缘测试点和第四边缘测试点；其中，所述第一边缘测试点和所述第二边缘测试点的横坐标为参考上限信号Ref_up，所述第三边缘测试点和所述第四边缘测试点的横坐标为参考下限信号Ref_dn；所述第一边缘测试点和所述第三边缘测试点的纵坐标为数据选用左信号DQS_Left，所述第二边缘测试点和所述第四边缘测试点的纵坐标为数据选用右信号DQS_Right；所述基准测试点的横坐标为参考基准信号Ref_cen，所述基准测试点的纵坐标为数据选用基准信号DQS_CEN。

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