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龙图腾网恭喜长鑫科技集团股份有限公司申请的专利测试电路、测试方法及芯片堆叠结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119068967B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411533604.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权测试电路、测试方法及芯片堆叠结构是由曹堪宇;张家瑞设计研发完成，并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试电路、测试方法及芯片堆叠结构在说明书摘要公布了：本公开提供一种测试电路、测试方法和芯片堆叠结构。测试电路，应用于逻辑芯片，包括：第一寄存器模块，与逻辑芯片的第一路径和第一硅通孔电连接，当第一测试使能信号为第一电平时，被配置为线性反馈移位寄存器，通过第一路径以第一速度接收第一测试信号；当第一测试使能信号为第二电平时，被配置为普通移位寄存器，根据串行测试协议，将第一寄存器模块中的数值串行输出，得到第一测试结果信号。本公开至少有利于在堆叠之前对逻辑芯片进行速度测试，节约测试成本。

本发明授权测试电路、测试方法及芯片堆叠结构在权利要求书中公布了：1.一种测试电路，其特征在于，应用于逻辑芯片，包括：第一寄存器模块，与所述逻辑芯片的第一路径和第一硅通孔电连接，当第一测试使能信号为第一电平时，被配置为线性反馈移位寄存器，通过所述第一路径以第一速度接收第一测试信号；当所述第一测试使能信号为第二电平时，被配置为普通移位寄存器，根据串行测试协议，将所述第一寄存器模块中的数值串行输出，得到第一测试结果信号；其中，所述第一寄存器模块包括第一寄存器单元、第一输入选择单元和第一时钟选择单元；所述第一寄存器单元，包括M个触发器，M为正整数；当第一测试使能信号为第一电平时，被配置为线性反馈移位寄存器；当所述第一测试使能信号为第二电平时，被配置为普通移位寄存器；所述第一输入选择单元，被配置为，响应于所述第一测试使能信号为所述第一寄存器单元提供所述第一测试信号；所述第一时钟选择单元，被配置为，响应于所述第一测试使能信号为所述第一寄存器单元提供第一时钟信号或第二时钟信号，其中，所述第一时钟信号用于对所述逻辑芯片的命令地址信号进行采样，所述第二时钟信号是所述串行测试协议下的时钟信号。

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