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龙图腾网恭喜深圳市迈德迩半导体有限公司申请的专利SSD设备的稳态检测方法、装置及SSD设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119003302B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411065036.8，技术领域涉及：G06F11/34；该发明授权SSD设备的稳态检测方法、装置及SSD设备是由李斌;胡文婷;李芳设计研发完成，并于2024-08-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本SSD设备的稳态检测方法、装置及SSD设备在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种SSD设备的稳态检测方法、装置及SSD设备，应用于SSD设备，所述方法包括：采集预设时间段的IOPS数据，得到多个IOPS数据；将所述预设时间段按照时间先后顺序划分为多个时间段，获取所述多个时间段对应的IOPS数据，得到多个IOPS数据集；根据所述多个IOPS数据集确定所述多个时间段中的每一时间段的平均IOPS，得到多个平均IOPS值；根据所述多个平均IOPS值确定当前SSD稳态评价值；在所述当前SSD稳态评价值大于预设阈值时，确定所述SSD处于稳态数据状态；在所述当前SSD稳态评价值小于或等于所述预设阈值时，确定所述SSD不处于所述稳态数据状态。

本发明授权SSD设备的稳态检测方法、装置及SSD设备在权利要求书中公布了：1.一种SSD设备的稳态检测方法，其特征在于，应用于SSD设备，所述方法包括：采集预设时间段的IOPS数据，得到多个IOPS数据；将所述预设时间段按照时间先后顺序划分为多个时间段，从所述多个IOPS数据中获取所述多个时间段对应的IOPS数据，得到多个IOPS数据集；根据所述多个IOPS数据集确定所述多个时间段中的每一时间段的平均IOPS，得到多个平均IOPS值；根据所述多个平均IOPS值确定当前SSD稳态评价值；在所述当前SSD稳态评价值大于预设阈值时，确定所述SSD处于稳态数据状态；在所述当前SSD稳态评价值小于或等于所述预设阈值时，确定所述SSD不处于所述稳态数据状态；其中，所述根据所述多个平均IOPS值确定当前SSD稳态评价值，包括：获取所述多个平均IOPS值中的目标平均IOPS值，所述目标平均IOPS值对应的时间段距离当前时刻最近；按照预设的IOPS值与SSD稳态评价值之间的映射关系确定所述目标平均IOPS对应的参考SSD稳态评价值；根据所述多个平均IOPS值以及相应的时间段确定多个坐标点，每一坐标点的横轴为时间，且纵轴为IOPS值；将所述多个坐标点进行拟合，得到拟合直线和拟合曲线；获取所述拟合直线的目标斜率；根据所述拟合曲线确定所述当前时刻的拟合IOPS值；确定所述拟合IOPS值与所述目标平均IOPS值之间的目标偏离度；确定与所述目标偏离度对应的目标调节参数；确定与所述目标斜率对应的目标微调参数；根据所述目标调节参数以及所述目标微调参数调节所述参考SSD稳态评价值，得到所述当前SSD稳态评价值。

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