深圳超盈智能科技有限公司夏俊杰获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳超盈智能科技有限公司申请的专利一种半导体晶片检测用测试座获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222689149U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202421535092.9,技术领域涉及:G01B21/30;该实用新型一种半导体晶片检测用测试座是由夏俊杰;林华胜;顾红伟设计研发完成,并于2024-06-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体晶片检测用测试座在说明书摘要公布了:本实用新型涉及半导体生产测试领域,公开了一种半导体晶片检测用测试座,包括限位放置待检测半导体晶片的限位台,限位台上设置有对半导体晶片相邻两个侧边限位的固定限位结构,限位台的外侧设置有对半导体晶片另外两个侧边分别弹性限位的可移动限位机构,限位台上设置有对半导体晶片进行吸附并对平整度进行检测的吸附检测结构,限位台上设置检测可移动限位机构移动限位位置的定位检测机构。通过检测可移动限位机构移动限位位置判断半导体晶片的限位固定位置精准度,避免面出现芯片定位限位不准影响测试结果准确性和损坏测试测试电路板的情况。
本实用新型一种半导体晶片检测用测试座在权利要求书中公布了:1.一种半导体晶片检测用测试座,包括限位放置待检测半导体晶片的限位台100,其特征在于:所述限位台100上设置有对半导体晶片相邻两个侧边限位的固定限位结构200,所述限位台100的外侧设置有对半导体晶片另外两个侧边分别弹性限位的可移动限位机构300,所述限位台100上设置有对半导体晶片进行吸附并对平整度进行检测的吸附检测结构400,所述限位台100上设置检测可移动限位机构300移动限位位置的定位检测机构500。
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