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龙图腾网恭喜深圳市杰驰电子有限公司申请的专利集成电路扫描测试的方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117805593B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410027853.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权集成电路扫描测试的方法及系统是由李广洪设计研发完成，并于2024-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路扫描测试的方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及电子测试技术领域，尤其涉及一种集成电路扫描测试的方法及系统。所述方法包括以下步骤：对集成电路进行多通道扫描测试设计和测试点筛选优化处理，以得到集成电路扫描测试优化点；对集成电路扫描测试优化点进行历史运行数据采集和故障程度检测，得到扫描测试点历史运行故障程度值；根据预设的运行故障程度标准值对扫描测试点历史运行故障程度值对应的集成电路扫描测试优化点进行比较判断和扫描测试，以得到集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据；对集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据进行集成分析，以得到集成电路扫描测试集成数据。本发明能够提高扫描测试的效率和精度。

本发明授权集成电路扫描测试的方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种集成电路扫描测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：对集成电路进行多通道扫描测试路径设计，以得到集成电路多通道扫描测试路径；对集成电路多通道扫描测试路径进行测试点筛选优化处理，以得到集成电路扫描测试优化点；其中，步骤S1包括以下步骤：步骤S11：利用多通道扫描技术对集成电路进行多通道扫描处理，以得到集成电路多通道扫描信号；步骤S12：根据集成电路多通道扫描信号对集成电路进行测试激励处理，得到集成电路多通道扫描测试激励反馈数据；步骤S13：根据集成电路多通道扫描测试激励反馈数据对集成电路多通道扫描信号进行动态扫描测试调整，以生成集成电路多通道扫描测试调整信号；步骤S14：基于集成电路多通道扫描测试调整信号对集成电路进行扫描测试路径设计，以得到集成电路多通道扫描测试路径；步骤S15：对集成电路多通道扫描测试路径进行测试点筛选优化处理，以得到集成电路扫描测试优化点；步骤S2：对集成电路扫描测试优化点进行历史运行数据采集，得到扫描测试点历史运行数据；对扫描测试点历史运行数据进行故障程度检测，得到扫描测试点历史运行故障程度值；根据预设的运行故障程度标准值对扫描测试点历史运行故障程度值对应的集成电路扫描测试优化点进行比较判断，以得到集成电路扫描测试高频故障点以及集成电路扫描测试低频故障点；其中，步骤S2包括以下步骤：步骤S21：对集成电路扫描测试优化点进行历史运行数据采集，得到扫描测试点历史运行数据；步骤S22：对扫描测试点历史运行数据进行故障检测，以得到扫描测试点历史运行故障数据；步骤S23：利用运行故障程度计算公式对扫描测试点历史运行故障数据进行故障程度计算，得到扫描测试点历史运行故障程度值；其中，运行故障程度计算公式如下所示： ；式中，为在时间处的扫描测试点历史运行故障程度值，为扫描测试点历史运行故障数据的时间变量参数，为故障程度计算的外积分时间变量参数，为故障程度计算的内积分时间变量参数，为扫描测试点历史运行故障数据在时间处的历史运行故障率，为历史运行故障影响权重参数，为扫描测试点历史运行故障数据在时间处的故障衰减速率，为故障衰减振动幅度调整参数，为故障衰减影响权重参数，为扫描测试点历史运行故障数据在时间处的系统负载效率，为系统负载影响权重参数，为系统负载变化调整参数，为扫描测试点历史运行故障程度值的修正值；步骤S24：根据预设的运行故障程度标准值对扫描测试点历史运行故障程度值对应的集成电路扫描测试优化点进行比较判断，当扫描测试点历史运行故障程度值大于或等于预设的运行故障程度标准值时，则将该扫描测试点历史运行故障程度值对应的集成电路扫描测试优化点判定为集成电路扫描测试高频故障点；当扫描测试点历史运行故障程度值小于预设的运行故障程度标准值时，则将该扫描测试点历史运行故障程度值对应的集成电路扫描测试优化点判定为集成电路扫描测试低频故障点；步骤S3：确定集成电路扫描测试优化点为集成电路扫描测试高频故障点时，则对集成电路扫描测试高频故障点进行异步扫描调整测试，以得到集成电路高频故障异步测试数据；步骤S4：确定集成电路扫描测试优化点为集成电路扫描测试低频故障点时，则对集成电路扫描测试低频故障点进行高速时序扫描测试，以得到集成电路低频故障时序测试数据；步骤S5：对集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据进行集成分析，以得到集成电路扫描测试集成数据；其中，步骤S5包括以下步骤：步骤S51：对集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据进行预处理和标准化，以得到高频故障异步测试标准数据以及低频故障时序测试标准数据；步骤S52：利用时序数据对齐算法对高频故障异步测试标准数据以及低频故障时序测试标准数据进行时序对齐同步分析，以得到高频故障测试时序同步数据以及低频故障测试时序同步数据；步骤S53：对高频故障测试时序同步数据以及低频故障测试时序同步数据进行集成分析，以得到集成电路扫描测试集成数据。

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