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龙图腾网恭喜合肥工业大学申请的专利一种中子辐照下大功率晶闸管电性能衰减测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119556094B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510128909.3，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种中子辐照下大功率晶闸管电性能衰减测试系统及方法是由仝玮;向念文;吴亚楠;宋执权;刘冬梅;张宇娇;薛建议;陈志伟设计研发完成，并于2025-02-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种中子辐照下大功率晶闸管电性能衰减测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及晶闸管运行可靠性分析技术领域，尤其涉及一种中子辐照下大功率晶闸管电性能衰减测试系统及方法。其技术方案包括处于重铅屏蔽体内的辐照区子系统和处于重铅屏蔽体外的测试区子系统，所述辐照区子系统内设置有人工中子源、阶梯式样品测试架、限流电阻和接地连接的采样电阻，所述阶梯式样品测试架上分别安装有晶闸管组一、晶闸管组二和晶闸管组三，晶闸管组一、晶闸管组二和晶闸管组三均由四个被测大功率晶闸管以人工中子源为中心呈环形分布组成。本发明实现大功率晶闸管在中子辐照下电性能衰减情况的实时在线监测，可实现不同中子注量导致大功率晶闸管电性能衰减的同步测试，测试效率高，测试成本低。

本发明授权一种中子辐照下大功率晶闸管电性能衰减测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种中子辐照下大功率晶闸管电性能衰减测试系统，包括处于重铅屏蔽体内的辐照区子系统和处于重铅屏蔽体外的测试区子系统，其特征在于：所述辐照区子系统内设有人工中子源、阶梯式样品测试架、限流电阻和采样电阻，所述阶梯式样品测试架分别与限流电阻和采样电阻电性连接；所述阶梯式样品测试架上分别安装有晶闸管组一、晶闸管组二和晶闸管组三，晶闸管组一、晶闸管组二和晶闸管组三均由四个被测大功率晶闸管以人工中子源为中心呈环形分布组成；所述测试区子系统包括分压电阻、高压直流电源、工况机和示波器，分压电阻分别与被测大功率晶闸管和采样电阻连接，所述分压电阻由两个电阻连接组成，两个电阻之间通过电压探头连接至示波器，高压直流电源与限流电阻连接。

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