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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利多孔径成像光学系统及其共相位校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119376098B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411966405.0，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权多孔径成像光学系统及其共相位校正方法是由张建文;邓伟杰;付强;徐萌萌;薛栋林;张学军设计研发完成，并于2024-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本多孔径成像光学系统及其共相位校正方法在说明书摘要公布了：本发明涉及多孔成像技术领域，尤其涉及一种多孔径成像光学系统及共相位校正方法，共相位校正方法包括：建立仿真模型，进行振动仿真分析，以得到第一仿真关系，进行振动实验，以得到第一实验关系，采用第一实验关系对第一仿真关系进行优化，以得到第一目标关系；实验获取共相位误差与图像退化值的第二实验关系，仿真获取共相位误差与图像退化值的第二仿真关系，采用第二实验关系对第二仿真关系进行优化，以得到第二目标关系；根据实际振动条件下的图像退化值得到实际振动参数，根据实际振动参数对共相位误差进行控制，以使多孔径成像光学系统的共相位误差小于预设值。本发明至少有利于降低振动对多孔径成像光学系统的成像造成的影响。

本发明授权多孔径成像光学系统及其共相位校正方法在权利要求书中公布了：1.一种共相位校正方法，其特征在于，包括：提供多孔径成像光学系统；根据所述多孔径成像光学系统建立仿真模型，对所述仿真模型进行振动仿真分析，以得到振动参数与共相位误差的第一仿真关系，对所述多孔径成像光学系统进行振动实验，以得到振动参数与共相位误差的第一实验关系，基于第一优化算法采用所述第一实验关系对所述第一仿真关系进行优化，以得到第一目标关系，所述第一目标关系表示为泽尼克多项式，所述泽尼克多项式如下： ；其中，表示泽尼克多项式第i项的拟合式，表示泽尼克多项式第i项的系数，n表示泽尼克拟合总数，m表示仿真不同频率变量项数，fm表示与振动参数相关的共相位误差值以及光幅值变化的三维矩阵函数，表示振动参数，表示振动矢量，的模值代表振动振幅，振动矢量的方向代表振动方向，v代表所述振动矢量所对应的振动频率；实验获取所述多孔径成像光学系统具有共相位误差时的图像退化情况，以得到共相位误差与图像退化值的第二实验关系，仿真获取所述仿真模型具有共相位误差时的图像退化情况，以得到共相位误差与图像退化值的第二仿真关系，基于第二优化算法采用所述第二实验关系对所述第二仿真关系进行优化，以得到第二目标关系，所述第二目标关系的损失函数为： ；其中，f表示理想成像效果所对应的多孔径成像光学系统的参数关系函数，h表示图像退化卷积核，A表示第一优化迭代张量拟合式，B表示第二优化迭代张量拟合式，N表示噪声动态估计拟合值，g表示实际成像效果所对应的多孔径成像光学系统的参数关系函数；根据实际振动条件下的图像退化值、所述第二目标关系和所述第一目标关系得到实际振动参数，根据所述实际振动参数对所述多孔径成像光学系统的共相位误差进行校正，以使所述多孔径成像光学系统的共相位误差小于预设值。

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