恭喜光轮智能(北京)科技有限公司甘宇飞获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网恭喜光轮智能(北京)科技有限公司申请的专利模型缺陷检测方法、计算机设备及可读存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119229243B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411774266.1,技术领域涉及:G06V10/776;该发明授权模型缺陷检测方法、计算机设备及可读存储介质是由甘宇飞;谢晨;杨海波设计研发完成,并于2024-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本模型缺陷检测方法、计算机设备及可读存储介质在说明书摘要公布了:本申请公开了一种模型缺陷检测方法、计算机设备及可读存储介质,涉及模型测试技术领域。本申请公开的方法包括:获取合成图像数据集,所述合成图像数据集中的数据为带有标注的图像数据;基于所述合成图像数据集验证待检测模型,基于验证结果确定所述合成图像数据集中的第一缺陷样本数据;获取真实图像数据集,所述真实图像数据集中的数据为未标注的图像数据;基于所述第一缺陷样本数据和所述真实图像数据集获得第二缺陷样本数据;基于所述第二缺陷样本数据检测所述待检测模型是否存在模型缺陷。本申请实现了在很少标注成本下快速检测出模型缺陷的目的,有效提升了模型缺陷检出覆盖度和模型安全验证效率。
本发明授权模型缺陷检测方法、计算机设备及可读存储介质在权利要求书中公布了:1.一种模型缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取合成图像数据集,所述合成图像数据集中的数据为带有标注的图像数据;基于所述合成图像数据集验证待检测模型,基于验证结果确定所述合成图像数据集中的第一缺陷样本数据;获取真实图像数据集,所述真实图像数据集中的数据为未标注的图像数据;基于所述第一缺陷样本数据和所述真实图像数据集获得第二缺陷样本数据;基于所述第二缺陷样本数据检测所述待检测模型是否存在模型缺陷;所述基于所述合成图像数据集验证待检测模型,基于验证结果确定所述合成图像数据集中的第一缺陷样本数据包括:将所述合成图像数据集中的图像数据作为所述待检测模型的输入,基于所述待检测模型对所述图像数据进行目标预测;基于模型输出的目标预测结果确定模型评估指标,选取所述模型评估指标低于预设阈值时所对应的所述合成图像数据集中的图像数据作为所述第一缺陷样本数据;所述基于所述第一缺陷样本数据和所述真实图像数据集获得第二缺陷样本数据包括:基于所述第一缺陷样本数据从所述真实图像数据集中获取待标注样本数据,对所述待标注样本数据进行标注获得所述第二缺陷样本数据。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人光轮智能(北京)科技有限公司,其通讯地址为:100044 北京市海淀区海淀大街甲36号5层5014号-708号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。