长迈半导体(成都)有限公司黄炜胜获国家专利权
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龙图腾网获悉长迈半导体(成都)有限公司申请的专利老化测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN222704685U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202420902443.9，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型老化测试装置是由黄炜胜;李康海;祁鹏鹏设计研发完成，并于2024-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本老化测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型涉及一种老化测试装置，在老化测试过程中通过中转板将资源腔内的资源板与测试腔内的老化板进行对接，故资源板提供的电源及控制信号便可通过中转板传递至老化板。在需要更换中转板时，先将导向盖拆除，再沿远离隔热板的方向将旧的中转板从限位槽内拔出。接着，将新的中转板的第一端从限位槽的开口插入，直至中转板的第一端从另一侧开口伸出并穿过隔热板，且中转板与限位槽的内壁密封配合到位。重新将导向盖安装于支撑底座，便可完成中转板的更换。可见，上述老化测试装置在更换中转板的过程中只需要进行导向盖的拆装及中转板的拔插即可，操作较方便。
本实用新型老化测试装置在权利要求书中公布了：1.一种老化测试装置，其特征在于，包括：箱体，形成有由隔热板隔开的资源腔及测试腔，所述测试腔用于容纳老化板，所述资源腔用于容纳资源板；及板卡通讯组件，包括中转板、支撑底座及导向盖，所述中转板具有安装金手指的第一端及安装连接器的第二端；所述支撑底座安装于所述隔热板的一侧，所述支撑底座上形成有两侧开口的限位槽；其中，所述中转板穿设于所述限位槽并使所述中转板的第一端经所述限位槽穿过所述隔热板，且所述中转板穿过所述限位槽的过程中与所述限位槽的内壁形成密封配合；所述导向盖可拆卸地安装于所述支撑底座，并被配置为阻止所述中转板从所述限位槽内退出。
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