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龙图腾网恭喜上海晶岳电子有限公司申请的专利一种绝缘栅双极型晶体管功能失效检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114998241B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210586064.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种绝缘栅双极型晶体管功能失效检测方法及系统是由赵志设计研发完成，并于2022-05-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种绝缘栅双极型晶体管功能失效检测方法及系统在说明书摘要公布了：本申请涉及一种绝缘栅双极型晶体管功能失效检测方法及系统，依次通过获取当前待检测晶体管的当前实际外部图像，生成色彩增强转化图像；若判断所述当前待检测晶体管的外部形态存在形态功能失效，则生成功能失效指示；若判断所述当前待检测晶体管的外部形态不存在形态功能失效，则在将所述当前待检测晶体管安装于预设特定位置后，获取所述当前待检测晶体管的当前晶体管内部结构排布数据；判断所述当前待检测晶体管是否存在内部功能缺陷，若判断所述当前待检测晶体管存在内部功能缺陷，则生成功能失效提示。本发明实现极大提升了检测效率和检测的准确性，极大满足用户的使用需求。

本发明授权一种绝缘栅双极型晶体管功能失效检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种绝缘栅双极型晶体管功能失效检测方法，其特征在于，所述方法包括：基于预设的图像检测装置，获取当前待检测晶体管的当前实际外部图像，并对所述当前实际外部图像进行色彩增强转化处理，并生成色彩增强转化图像；根据所述色彩增强转化图像判断所述当前待检测晶体管的外部形态是否存在形态功能失效，若判断所述当前待检测晶体管的外部形态存在形态功能失效，则生成功能失效指示；若判断所述当前待检测晶体管的外部形态不存在形态功能失效，则在将所述当前待检测晶体管安装于预设特定位置后，基于预设的晶体管内部结构探测装置获取所述当前待检测晶体管的当前晶体管内部结构排布数据；根据所述当前晶体管内部结构排布数据判断所述当前待检测晶体管是否存在内部功能缺陷，若判断所述当前待检测晶体管存在内部功能缺陷，则生成功能失效提示，并基于预设的晶体管搬运机构将存在内部功能缺陷的当前待检测晶体管搬运至功能缺陷区域；所述当前实际外部图像包括外表面实际图像和引脚连接处实际图像；所述色彩增强转化图像包括当前校准后整体加强图像和当前校准后连接处加强图像；基于预设的图像检测装置，获取当前待检测晶体管的当前实际外部图像，并对所述当前实际外部图像进行色彩增强转化处理，并生成色彩增强转化图像，具体包括：基于预设的图像驱动装置驱动所述图像检测装置对所述当前待检测晶体管进行多角度图像检测，并获取外表面实际图像和引脚连接处实际图像；将所述外表面实际图像和预设的标准整体图像进行比对，并提取当前整体比对损坏点，同时将所述引脚连接处实际图像与标准引脚连接图像对比，并提取引脚连接损坏点；对所述外表面实际图像进行第一色彩加强处理，并生成整体外表加强图像，同时对所述引脚连接处实际图像进行第一色彩加强处理，并生成引脚连接处加强图像；提取所述整体外表加强图像中的损坏点，并生成加强图像损坏点；提取所述引脚连接处加强图像中的损坏点，并生成加强图像连接处损坏点；将所述当前整体比对损坏点与所述加强图像损坏点对比，并生成确定整体损坏点，根据所述确定整体损坏点对所述整体外表加强图像校准，并在校准后生成当前校准后整体加强图像；将所述引脚连接损坏点与所述加强图像连接处损坏点对比，并生成连接处确定损坏点，根据所述连接处确定损坏点对所述引脚连接处加强图像进行校准，并在校准后生成当前校准后连接处加强图像；所述晶体管内部结构探测装置包括探测信号发送模块和探测信号接收模块；若判断所述当前待检测晶体管的外部形态不存在形态功能失效，则在将所述当前待检测晶体管安装于预设特定位置后，基于预设的晶体管内部结构探测装置获取所述当前待检测晶体管的当前晶体管内部结构排布数据；具体包括：若判断所述当前待检测晶体管的外部形态不存在形态功能失效，则在将所述当前待检测晶体管安装于预设特定位置后，根据所述预设特定位置获取起始探测点；根据所述起始探测点和预设的标准间隔距离生成等间隔探测点；基于所述探测信号发送模块自所述起始探测点后起，依次在各所述等间隔探测点的前侧朝向所述等间隔探测点发射初始探测信号；基于所述探测信号接收模块在各所述等间隔探测点的后侧接收所述初始探测信号经所述当前待检测晶体管后的初始穿透信号；基于所述探测信号发送模块获取所述探测信号发送模块接收到所述初始探测信号经所述当前待检测晶体管中的金属引脚反弹后的初始反弹信号；根据各所述初始穿透信号和各所述初始反弹信号生成所述当前待检测晶体管的当前晶体管内部结构排布数据。

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