恭喜清华大学杨祎罡获国家专利权
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龙图腾网恭喜清华大学申请的专利一种单源双射线成像检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114594113B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210203812.0，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权一种单源双射线成像检测方法及装置是由杨祎罡;李元景;王学武;李玉兰;张智;于洋懿设计研发完成，并于2022-03-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种单源双射线成像检测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种单源双射线成像检测方法及装置，方法包括：根据被检测物体的中子成像检测数据和X射线成像检测数据，确定被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量；根据被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量，计算被检测物体的材料属性参数；统计材料属性参数的分布，拟合出材料属性参数的高斯分布曲线；根据预设的判别阈值，对高斯分布曲线中超出预设分布范围的材料属性参数进行标记；根据标记出的材料属性参数确定被检测物体中目标对象的位置。在拟合出的材料属性参数高斯分布曲线中，对超出分布范围的属性参数进行标记，根据标记出的属性参数确定目标对象的位置，能够对被检测物体中目标对象的位置进行准确定位，提高了检测的精确度。
本发明授权一种单源双射线成像检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种单源双射线成像检测方法，其特征在于，包括：根据被检测物体的中子成像检测数据和X射线成像检测数据，确定所述被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量；根据所述被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量，计算所述被检测物体的材料属性参数；统计所述材料属性参数的分布，拟合出所述材料属性参数的高斯分布曲线；根据预设的判别阈值，对所述高斯分布曲线中超出预设分布范围的所述材料属性参数进行标记；根据标记出的所述材料属性参数确定所述被检测物体中目标对象的位置。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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