恭喜上海艾为电子技术股份有限公司蒋知广获国家专利权
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龙图腾网恭喜上海艾为电子技术股份有限公司申请的专利数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115078978B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110264997.1，技术领域涉及：G01R31/3185；该发明授权数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路是由蒋知广;张忠设计研发完成，并于2021-03-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路在说明书摘要公布了：本发明提供了一种数字集成电路的扫描链测试方法及系统，方法包括将切换向量和输入数据向量按照预设规则转换为组合向量，进而根据组合向量生成组合信号并输入到数字集成电路，然后在数字集成电路内对组合信号进行分离，得到切换信号和输入数据信号，进而进行扫描链测试。通过将原来的两个信号组合为一个信号输入到数字集成电路，减少了一个PAD端口的需求量，因此，只需要三个PAD端口即可进行扫描链测试，具体的，一个PAD端口用于输入组合信号，一个PAD端口用于输入系统时钟，最后一个PAD端口用于扫描链的输出信号的输出。提高了只有三个PAD端口的数字集成电路的测试覆盖率与可观测性，进而提高了量产测试的质量。
本发明授权数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路在权利要求书中公布了：1.一种数字集成电路的扫描链测试方法，其特征在于，包括：将切换向量和输入数据向量中的数据进行交叉排列，得到组合向量；根据所述组合向量生成相应的组合信号；在所述数字集成电路中将所述组合信号分离为切换信号和输入数据信号；利用所述切换信号、所述输入数据信号和系统时钟对所述数字集成电路进行扫描链测试，得到所述数字集成电路实际的输出信号；对理论的输出数据向量和所述实际的输出信号进行对比，得到扫描链测试结果。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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