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龙图腾网恭喜武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115524876B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211068519.4，技术领域涉及：G02F1/13；该发明授权一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备是由方锑;林松;刘洒设计研发完成，并于2022-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备，属于显示面板检测技术领域，其通过在L0画面下获取第一目标图像，识别亮点缺陷及其位置信息，再通过在UP画面和DP画面下获取对应的目标图像，得到两目标图像中各亮点缺陷处的像素灰阶值，利用两像素灰阶值与第一目标图像组合分析，进而判断亮点缺陷的真假。本发明的显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备，能够实现亮点与灰尘重合时亮点真假的判断，对点类缺陷进行过检挽救，提高了显示面板点类缺陷检出的准确率，保证了显示面板AOI检测的效率和精度，具有较好的实用价值和应用前景。

本发明授权一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备在权利要求书中公布了：1.一种显示面板点类缺陷过检挽救方法，其特征在于，包括：在L0画面下对显示面板进行取图，获取第一目标图像，从所述第一目标图像中识别亮点缺陷，并获取所述亮点缺陷的位置信息，其中，L0画面为面板屏幕点亮，且设定灰度等级为0时的取图画面；不点亮显示面板，开启高侧光，获得显示面板的第二目标图像，根据所述第二目标图像和所述亮点缺陷的位置信息获得每个所述亮点缺陷处的第一像素灰阶值；不点亮显示面板，开启低侧光，获得显示面板的第三目标图像，根据所述第三目标图像和所述亮点缺陷的位置信息获得每个所述亮点缺陷处的第二像素灰阶值；根据所述第一目标图像和第一像素灰阶值、第二像素灰阶值判断所述亮点缺陷的真假；当同一个所述亮点缺陷在第一目标画面中的亮度类型为明显，且在第二目标画面和第三目标画面中的亮度类型为一个明显、另一个无现象时，该亮点缺陷为假亮点；否则，为真亮点；其中，亮度类型为明显指代的是灰度值介于15~255之间的测点，亮度类型为无现象指代的是灰度值介于0~3之间的测点。

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