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龙图腾网恭喜江西兆驰半导体有限公司申请的专利一种LED芯片探针检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115236492B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210886530.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种LED芯片探针检测方法及装置是由王晓明;赵晓明;董国庆;文国昇;金从龙设计研发完成，并于2022-07-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种LED芯片探针检测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种LED芯片探针检测方法及装置，该方法包括如下步骤：将多组探针组中第一组探针组扎至晶粒区，其他探针组依次落在绝缘Mark区内；对多组探针组进行VF判定，以判断第一组探针组的接线是否正常；若第一组探针组的接线正常，则控制多组探针组朝向晶粒区一侧移动，以使多组探针组中第二组探针组扎至晶粒区，并判断第二组探针组的接线是否正常；若第二组探针组的接线正常，依次重复控制多组探针组移动的步骤，直至所有探针组通过接线测试。通过对每个探针组依次进行检测，在探针组进行作业之前，保证所有探针组的接线正常，防止由于探针组之间接线错误而发生数据混乱，从而影响产品质量。

本发明授权一种LED芯片探针检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种LED芯片探针检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：对多组探针组之间的相对位置进行调整，以完成对针；将所述多组探针组中第一组探针组扎至晶粒区，其他探针组依次落在绝缘Mark区内，其中，所述晶粒区包括多个阵列分布的晶粒，所述绝缘Mark区包括设于所述晶粒一侧的多个绝缘Mark片；对所述多组探针组进行VF判定，以判断所述第一组探针组的接线是否正常，其中，对所述多组探针组进行VF判定的步骤具体包括：基于所述多组探针组中的探针组对所述晶粒及绝缘Mark片进行电压值VF检测；若位于所述晶粒区的第一组探针组对应的电压值落入预设范围内，且位于所述绝缘Mark区内的其他探针组对应的电压值落入预设范围外时，则判定所述第一组探针组的接线正常，并控制所述多组探针组朝向所述晶粒区一侧移动，以使所述多组探针组中第二组探针组扎至所述晶粒区，并判断所述第二组探针组的接线是否正常；若所述第二组探针组的接线正常，依次重复控制所述多组探针组朝向所述晶粒区一侧移动的步骤，直至所述多组探针组中所有的探针组通过接线测试。

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