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龙图腾网恭喜武汉海微科技股份有限公司申请的专利印刷电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114897797B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210434417.3，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权印刷电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质是由李林峰;汪杨刚;高强设计研发完成，并于2022-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本印刷电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明属于检测技术领域，公开了一种印刷电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取样本印刷电路板的样本训练图像和待检测印刷电路板的待检测图像；根据样本训练图像进行特征计算，得到样本训练图像对应的样本训练特征；根据样本训练特征和样本训练图像进行模型训练，得到预设缺陷检测模型；根据预设缺陷检测模型对待检测图像进行缺陷检测，得到印刷电路板的缺陷检测结果。通过上述方式，得到可以准确识别印刷电路板对应图像中是否存在缺陷的预设缺陷检测模型，从而基于预设缺陷检测模型对待检测图像进行缺陷检测，提高了PCB在线检测时的缺陷检测精度和准确率，满足PCB在线缺陷检测的需求。

本发明授权印刷电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种印刷电路板的缺陷检测方法，其特征在于，所述印刷电路板的缺陷检测方法包括：获取样本印刷电路板的样本训练图像和待检测印刷电路板的待检测图像；根据所述样本训练图像进行特征计算，得到所述样本训练图像对应的样本训练特征；根据所述样本训练特征和所述样本训练图像进行模型训练，得到预设缺陷检测模型；根据所述预设缺陷检测模型对所述待检测图像进行缺陷检测，得到所述印刷电路板的缺陷检测结果；其中，所述样本训练特征包括目标尺寸轮廓特征、图像方差特征、方向梯度直方图特征、边缘密度特征、平均梯度强度特征、累加梯度值特征、傅里叶频谱特征以及相关面特征中的至少一项；所述根据所述样本训练图像进行特征计算，得到所述样本训练图像对应的样本训练特征，包括：根据所述样本训练图像进行目标尺寸轮廓特征计算，得到目标尺寸轮廓特征；根据所述样本训练图像进行图像方差特征计算，得到图像方差特征；根据所述样本训练图像进行单元格划分，得到划分单元；根据所述划分单元进行方向直方图特征计算，得到方向直方图特征；根据所述样本训练图像确定边缘像素值、行像元素以及列像元素；根据所述边缘像素值、行像元素以及列像元素进行边缘密度特征计算，得到边缘密度特征；根据所述样本训练图像进行平均梯度强度计算，得到平均梯度强度特征；根据所述样本训练图像确定所述样本训练图像中各像素点坐标方向的梯度；根据所述各像素点坐标方向的梯度进行累加梯度值计算，得到累加梯度值特征；根据所述样本训练图像确定图像尺寸；根据所述图像尺寸进行傅里叶频谱特征计算，得到傅里叶频谱特征；根据所述样本训练图像进行相关面特征计算，得到相关面特征；其中，所述根据所述样本训练图像进行相关面特征计算，得到相关面特征，包括：根据所述样本训练图像进行单元格划分，得到划分单元；根据所述划分单元对应的划分单元图像和所述样本训练图像进行梯度强度计算，得到所述样本训练图像对应的第一梯度强度和所述划分单元图像对应的第二梯度强度；根据所述第一梯度强度、第二梯度强度、样本训练图像以及划分单元图像进行相关系数计算，得到相关面特征。

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