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龙图腾网恭喜天津大学申请的专利力学分量测量方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114445381B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210107740.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权力学分量测量方法、装置及电子设备是由仇巍;邢华丹;何全燕;曲传咏;王苗菁;贺晓勇设计研发完成，并于2022-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本力学分量测量方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了：本申请提供了一种力学分量测量方法、装置及电子设备，该方法包括：获取目标应用场景的待测样品对应的光角度参量、光特征参量和力学参量三者之间的解析关系；建立待测样品的实验坐标系；获取待测样品的待测区域在实验坐标系下的光特征参量分布图像集合；基于解析关系和待测区域在不同光角度参量值下的光特征参量分布图像，确定每一个待测点位的最优力学参量值；根据每一个待测点位的最优力学参量值，确定待测区域对应的力学参量分布图像集合。本申请可以提高对材料应力或应变场分析的准确性。

本发明授权力学分量测量方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种力学分量测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标应用场景的待测样品对应的光角度参量、光特征参量和力学参量三者之间的解析关系；其中，所述解析关系是根据所述待测样品的固有属性和所述目标应用场景对应的光学测量系统的偏振构型或几何构型确定的；所述力学参量包括多个力学分量；建立所述待测样品的实验坐标系；获取所述待测样品的待测区域在所述实验坐标系下的光特征参量分布图像集合；其中，所述待测区域包括多个待测点位；所述光特征参量分布图像集合包括所述待测区域在不同光角度参量值下的光特征参量分布图像；所述待测区域的所有待测点位与每一个所述光特征参量分布图像的像素位置一一对应；基于所述解析关系和所述待测区域在不同光角度参量值下的光特征参量分布图像，确定每一个所述待测点位的最优力学参量值；根据每一个所述待测点位的最优力学参量值，确定所述待测区域对应的力学参量分布图像集合；其中，所述力学参量分布图像集合包括所述最优力学参量值的每一个力学分量对应的力学参量分布图像；所述光学测量系统为二次谐波测量系统，该二次谐波测量系统的偏振构型为平行偏振构型，则入射光偏振角度、光强和正应变三者之间的解析关系对应的表达式为： 其中，为与待测样品材料本身和所用入射光有关的非零参量，和为与待测样品材料的固有属性有关的非零参量；为入射光偏振角度，为任意应变状态下二次谐波光强；和分别为相互正交的两个不同方向的正应变分量，为切应变分量；基于所述解析关系和所述待测区域在不同光角度参量下的光特征参量分布图像，确定每一个所述待测点位的最优力学参量值的步骤，包括：获取每一个所述光特征参量分布图像在相同像素位置处的光特征参量值；基于所述解析关系和每一个所述光特征参量分布图像在相同像素位置处的光特征参量值以及每一个所述光特征参量分布图像对应的光角度参量值，分别确定每一个所述待测点位的最优力学参量值。

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