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龙图腾网恭喜美新半导体(天津)有限公司申请的专利一种解耦式双框架微陀螺获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112097751B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010910335.2，技术领域涉及：G01C19/5747；该发明授权一种解耦式双框架微陀螺是由丁希聪;凌方舟;蒋乐跃;刘尧;刘海东;苏云鹏设计研发完成，并于2020-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种解耦式双框架微陀螺在说明书摘要公布了：本发明公开了一种解耦式双框架微陀螺，其包括：左驱动质量块组、右驱动质量块组、左哥氏质量块组和右哥氏质量块组，其均为一侧开口的半包围结构，且所述左驱动质量块组和右驱动质量块组的开口相对设置，所述左驱动质量块组和右驱动质量块组对称分布；所述左哥氏质量块组和右哥氏质量块组的开口相对设置；所述左哥氏质量块组和所述左驱动质量块组依次套设在左检测质量块的外围；所述右哥氏质量块组和所述右驱动质量块组依次套设在右检测质量块的外围。本发明所述的解耦式双框架微陀螺实现了检测电容的差分放大，提高了该结构的灵敏度，抑制了微陀螺的机械耦合，提高了微陀螺的检测精度。

本发明授权一种解耦式双框架微陀螺在权利要求书中公布了：1.一种解耦式双框架微陀螺，其特征在于，其包括：左驱动质量块组和右驱动质量块组，其中所述左驱动质量块组和右驱动质量块组均为一侧开口的半包围结构，且所述左驱动质量块组和右驱动质量块组的开口相对设置，所述左驱动质量块组和右驱动质量块组均包括两个驱动质量块；左哥氏质量块组和右哥氏质量块组，其中所述左哥氏质量块组和右哥氏质量块组均为一侧开口的半包围结构，且所述左哥氏质量块组和右哥氏质量块组的开口相对设置；左检测质量块和右检测质量块，所述左哥氏质量块组和所述左驱动质量块组依次套设在所述左检测质量块的外围，所述左哥氏质量块组和所述左驱动质量块组的开口朝向相同；所述右哥氏质量块组和所述右驱动质量块组依次套设在所述右检测质量块的外围，所述右哥氏质量块组和所述右驱动质量块组的开口朝向相同，所述左哥氏质量块组和右哥氏质量块组均包括两个哥氏质量块，以及连接该两个哥氏质量块的连接杆，每个所述哥氏质量块具有第一端和第二端，所述连接杆的两端分别与所述两个哥氏质量块的第一端相连，以使得所述左哥氏质量块组和右哥氏质量块组分别形成半包围结构；每个所述哥氏质量块的第一端和第二端分别设置有一个检测解耦梁，每个检测解耦梁的一端连接哥氏质量块，另一端连接驱动质量块，所述检测解耦梁被设置的使得所述哥氏质量块随所述驱动质量块运动，每个哥氏质量块上设置有两个正交校正电极，两个所述正交校正电极分别靠近所述哥氏质量块的第一端和第二端，所述左哥氏质量块组的两个哥氏质量块相对设置，同时调节左哥氏质量块组中的一个哥氏质量块上的第一端或第二端的正交校正电极和左哥氏质量块组中的另一个哥氏质量块上的第二端或第一端的正交校正电极，所述左哥氏质量块组实现从第一角度位置到第二角度位置的偏转；所述右哥氏质量块组的两个哥氏质量块相对设置，同时调节右哥氏质量块组中的一个哥氏质量块上的第一端或第二端的正交校正电极和右哥氏质量块组中的另一个哥氏质量块上的第二端或第一端的正交校正电极，所述右哥氏质量块组实现从第三角度位置到第四角度位置的偏转。

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