买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜北京航空航天大学申请的专利一种时变干扰环境下MIMO雷达近场精密成像测量与校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119064928B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411299818.8，技术领域涉及：G01S13/89；该发明授权一种时变干扰环境下MIMO雷达近场精密成像测量与校准方法是由刘天金;许小剑设计研发完成，并于2024-09-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种时变干扰环境下MIMO雷达近场精密成像测量与校准方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种时变干扰环境下MIMO雷达近场精密成像测量与校准方法，首先将被测目标与定标体进行同时异地MIMO近场成像测量，采用子空间谱估计方法获取预处理二维图像中定标体的二维位置参数，基于参数化模型表征方法提取定标体的散射回波数据，根据定标体自身的散射特性和MIMO雷达阵元位置关系建立定标体的逐通道宽带散射函数理论值，最后，通过逐通道逐频点求解MIMO阵列成像校准系数，实现被测目标的成像校准。本发明采用上述的一种时变干扰环境下MIMO雷达近场精密成像测量与校准方法，在采用MIMO雷达的目标近场诊断成像测量中，能够在一定程度上消除测量环境中的时变干扰因素对成像测量结果的影响，从而提高MIMO雷达近场成像测量的精度。

本发明授权一种时变干扰环境下MIMO雷达近场精密成像测量与校准方法在权利要求书中公布了：1.一种时变干扰环境下MIMO雷达近场精密成像测量与校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、被测目标与定标体同时异地测量；S2、定标体散射回波提取；S3、定标体散射函数理论值构建；S4、MIMO阵列成像校准系数求解；S5、被测目标回波信号幅相校准与成像处理；步骤S1具体过程为：将被测目标与定标体放置在同一测量场景中的不同径向位置，进行同时异地条件下的MIMO雷达近场成像测量，获取被测目标与定标体全场景的散射回波的MIMO雷达近场成像测量值；步骤S1中，所述MIMO雷达近场成像测量满足以下几何关系：假设该阵列发射阵元个数为M，接收阵元个数为N；以被测目标参考中心为原点，横向距离为轴，径向距离为轴，建立直角坐标系；被测目标参考中心到MIMO阵列中心的距离为，第个发射阵元和第个接收阵元到目标上一点的径向距离分别为和，这一对收发天线与坐标原点所形成的双站角为；MIMO阵列第个发射阵元发射的步进频率雷达脉冲信号表示为： （1）式中，为矩形脉冲，为脉冲重复周期，K为脉冲数，为第个脉冲的载频，为虚数单位；第个发射阵元发射的电磁波照射到被测目标，经过目标散射后由第个接收阵元接收，该路径电磁波传播时延为： （2）式中，c为电磁波传播速度；将传播时延的第个脉冲作为MIMO雷达第个接收阵元的参考信号，则有： （3）将接收信号和参考信号作共轭相乘，得到回波信号的频域数据表达式为： （4）式中，为目标散射函数；对于扩展目标，每组MIMO雷达收发通道所接收的被测目标总散射场为各局部散射中心所产生的散射场相干求和，即： （5）式中，为被测目标的二维散射分布函数，D为目标区域；在存在时变干扰因素的情况下，回波信号改写为： （6）式中，为时变干扰因素所引起的目标回波信号中的幅度项误差，和为目标回波信号中的相位项误差；根据公式（6）将测量环境中的时变干扰因素所引起的幅相误差统一写为： （7）。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京航空航天大学，其通讯地址为：100193 北京市海淀区学院路37号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。