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龙图腾网恭喜新华三半导体技术有限公司申请的专利一种芯片测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113032196B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110334568.7，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种芯片测试方法及装置是由王红梅设计研发完成，并于2021-03-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试方法及装置在说明书摘要公布了：本申请提供了一种芯片测试方法及装置，应用于测试服务器中，该测试服务器外接网络设备，该网络设备包括NP芯片。该方法为：获取配置文件；根据配置文件对NP芯片进行初始化；待初始化完成后向NP芯片加载固件；待固件加载完成后，建立与PCIE服务器之间的通信连接；从PCIE服务器获取测试例套件，并在NP芯片上加载获取到的测试例套件，该测试例套件包括多个测试例；向网络测试仪发送报文注入指令，以使网络测试仪将测试报文发送至NP芯片，由NP芯片基于测试例套件对测试报文进行相应处理；对NP芯片进行监测处理，若监测到NP芯片基于测试例套件对测试报文进行处理时发生异常，则将报文处理的异常详情写入到日志文件中。

本发明授权一种芯片测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于测试服务器中，所述测试服务器外接网络设备，所述网络设备包括网络处理器NP芯片；所述方法，包括：获取配置文件，所述配置文件为对NP芯片进行测试所需的文件；根据所述配置文件对所述NP芯片进行初始化；待初始化完成后向所述NP芯片加载固件；待固件加载完成后，建立与PCIE服务器之间的通信连接；从所述PCIE服务器获取测试例套件，并在所述NP芯片上加载获取到的测试例套件，所述测试例套件包括多个测试例；向网络测试仪发送报文注入指令，以使所述网络测试仪将测试报文发送至所述NP芯片，由所述NP芯片基于所述测试例套件对所述测试报文进行相应处理；对所述NP芯片进行监测处理，若监测到所述NP芯片基于所述测试例套件对所述测试报文进行处理时发生异常，则将报文处理的异常详情写入到日志文件中。

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