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龙图腾网恭喜上海复享光学股份有限公司申请的专利微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111323408B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010245645.7，技术领域涉及：G01N21/66；该发明授权微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法是由洪少欣;贺晓龙;周燕飞;殷海玮设计研发完成，并于2020-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法，该检测系统包括：接收光路，包括第一显微物镜及用于测定光强的第一检测装置，第一检测装置对准于第一显微物镜的后端；用于获取接收光路的响应函数的标定设备，包括光源、用于将光线汇聚于第一显微物镜的焦平面上的聚光件、用于将不同频率光线导入第一显微物镜的前端的传导件和用于测定焦平面上的不同频率光线的光谱强度分布的第二检测装置，聚光件的第一端对准于光源，聚光件的第二端对准于焦平面，传导件设置于所述焦平面；以及用于测定待测发光件的电流的第三检测装置。本发明解决了传统的外量子效率检测装置检测单像素或亚毫米级别的微小尺寸的发光器件时准确性差的问题。

本发明授权微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法在权利要求书中公布了：1.一种微区下发光件的外量子效率检测系统，其特征在于，包括：接收光路，包括用于采集入射光线的第一显微物镜及用于测定所述入射光线的光强的第一检测装置，所述第一检测装置对准于所述第一显微物镜的后端；用于获取所述接收光路对不同频率的入射光线的响应函数的标定设备，包括用于发射不同频率光线的光源、用于将所述不同频率光线汇聚于所述第一显微物镜的前端的焦平面上的聚光件、用于将汇聚于所述焦平面上的所述不同频率光线导入所述第一显微物镜的前端的传导件和用于测定汇聚于所述焦平面上的所述不同频率光线的光谱强度分布的第二检测装置，所述聚光件的第一端对准于所述光源，所述聚光件的第二端对准于所述焦平面，所述传导件设置于所述焦平面；以及用于测定待测发光件的发光时的电流的第三检测装置。

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