恭喜西安简矽技术有限公司于天笑获国家专利权
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龙图腾网恭喜西安简矽技术有限公司申请的专利可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119442999B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510026431.3，技术领域涉及：G06F30/333；该发明授权可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质是由于天笑;王盼盼设计研发完成，并于2025-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质，属于可测试性设计技术领域，该可测试性设计电路图形化的方法包括：从芯片可测试性设计阶段的电路描述信息中，查找可测试性设计电路的描述信息；根据可测试性设计电路的描述信息，采用与原始电路差异化的绘制参数，绘制可测试性设计电路。能够区别显示原始电路和DFT电路。
本发明授权可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种可测试性设计电路图形化的方法，其特征在于，所述可测试性设计电路图形化的方法包括：从芯片可测试性设计阶段的电路描述信息中，查找可测试性设计电路的描述信息，所述芯片可测试性设计阶段的电路描述信息包括：用于描述原始电路的原理和结构的原始电路的描述信息，以及用于描述可测试性设计电路的原理和结构的可测试性设计电路的描述信息；根据所述可测试性设计电路的描述信息，采用与原始电路差异化的绘制参数，绘制可测试性设计电路，所述绘制参数是指将硬件描述语言描述的电路原理和结构进行图形化显示的参数；所述从芯片可测试性设计阶段的电路描述信息中，查找可测试性设计电路的描述信息，包括：从所述电路描述信息中，将满足预设条件的模块的描述信息，确定为所述可测试性设计电路的描述信息，所述预设条件包括以下至少一个：模块标识包括可测试性设计标识，模块包括的子模块的数量在预设数量范围内且至少一个子模块的标识包括可测试性设计标识。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安简矽技术有限公司，其通讯地址为：710000 陕西省西安市高新区天谷八路156号软件新城研发基地二期A9幢202室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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