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龙图腾网恭喜希烽光电科技(南京)有限公司;NANO科技(北京)有限公司申请的专利一种应用于光芯片测试的噪声校正系统及噪声校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119354502B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411904741.2，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种应用于光芯片测试的噪声校正系统及噪声校正方法是由陈泽;张晓波;史弘康;李磊设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种应用于光芯片测试的噪声校正系统及噪声校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种应用于光芯片测试的噪声校正系统，包括光源模块、偏振控制模块、光功率监测模块、光传输模块和光功率探测模块；光源模块输出光束用于光芯片测试，入射至偏振控制模块；偏振控制模块将光源模块的输出光束调制为具有特定偏振状态的光；光功率监测模块用于监测检测偏振控制模块输出光功率；光传输模块用于连接光功率监测模块和光功率探测模块；光功率探测模块用于测试和记录光传输模块的输出光功率。本发明还公开了一种应用于光芯片测试的噪声校正方法。优点，该系统是一个多光强测试系统，并需要校准光器件作为定标使用；该方法通过芯片测试系统的线性扰动理论对光芯片测量噪声进行多项式拟合，实现光芯片测试系统的噪声校正。

本发明授权一种应用于光芯片测试的噪声校正系统及噪声校正方法在权利要求书中公布了：1.一种应用于光芯片测试的噪声校正方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、光芯片测试系统测量校准光器件在不同偏振态下的偏振响应度，获得测量数据；步骤2、根据步骤1的测量数据，定义偏振响应度线性方程组，如下： ，也可以表示为： ；其中，A为矩阵；为的列向量，其中为求解上述方程组而得到的穆勒矩阵因子；同样为的列向量，其中为步骤1中测量所得的偏振响应度；为光功率监测模块（3）记录四种偏振态下的参考光功率，为光功率探测模块（5）所记录的测量光功率；步骤3、求解步骤2的偏振响应度线性方程组，得，进而计算穆勒矩阵因子的噪声，如下： ，其中，为的列向量，是校准光器件的理想的穆勒矩阵因子，不包含噪声；步骤4、构建光芯片测试系统的偏振响应度噪声模型，如下： ，其中，为的列向量，表示上述偏振响应度线性方程组中所包含的测量噪声；为二阶噪声模型的参数，为实数；所以光芯片测试系统的理想偏振响应度可表示如下： ，其中，为的列向量，不包含噪声；步骤5、构建光芯片测试系统的偏振响应度噪声扰动模型，根据矩阵范数的乘积不等式，噪声扰动模型可以转变为如下形式： ，其中，表示A的逆矩阵；系数为实数，与所述校准光器件的偏振依赖损耗相关；表示矩阵范数；步骤6，将步骤1~5循环次，每一次循环过程，上述光源模块（1）的输出光功率都不同，最终得到组观测数据点；步骤7，拟合组观测数据点，得出光芯片测试系统的偏振响应度噪声模型的参数，实现光芯片测试系统的噪声校正，得到理想的偏振响应度；所述芯片测试系统包括光源模块（1）、偏振控制模块（2）、光功率监测模块（3）、光传输模块（4）和光功率探测模块（5），光源模块（1）输出光束用于光芯片测试，输出光束具有单波长特性，入射至偏振控制模块（2）；偏振控制模块（2）将光源模块（1）的输出光束调制为具有特定偏振状态的光束，并保持光束的偏振态稳定；光功率监测模块（3）用于监测检测偏振控制模块（2）输出光功率，同时也实现系统中光束的传播；光传输模块（4）用于连接光功率监测模块（3）和光功率探测模块（5）；光功率探测模块（5）用于测试和记录光传输模块（4）的输出光功率。

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