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龙图腾网恭喜北京科技大学申请的专利基于视觉模型和局部单元法的结构构件截面尺寸检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118823095B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410952931.5，技术领域涉及：G06T7/60；该发明授权基于视觉模型和局部单元法的结构构件截面尺寸检测方法是由刘晓刚;徐刚;岳清瑞;张赢水设计研发完成，并于2024-07-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于视觉模型和局部单元法的结构构件截面尺寸检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于视觉模型和局部单元法的结构构件截面尺寸检测方法，属于工程结构智能检测技术领域，其包括：利用相机对被测结构构件进行拍摄，获取被测结构构件图像；对相机进行标定，得到相机标定参数；将被测结构构件图像输入预设的图像分割模型，利用图像分割模型得到被测结构构件图像的有效掩膜，并从有效掩膜中提取背景掩膜；将背景掩膜与被测结构构件图像进行融合，生成仅包含目标区域的二值化掩膜；基于二值化掩膜，结合相机标定参数，实现结构构件截面尺寸检测。本发明方法具有高效、准确、稳定的特点，适用于各种复杂环境下的结构构件检测需求，可显著提高检测工作的自动化程度和精度。

本发明授权基于视觉模型和局部单元法的结构构件截面尺寸检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于视觉模型和局部单元法的结构构件截面尺寸检测方法，其特征在于，所述基于视觉模型和局部单元法的结构构件截面尺寸检测方法包括：利用相机对被测结构构件进行拍摄，获取被测结构构件图像；对所述相机进行标定，得到所述相机的标定参数；将所述被测结构构件图像输入预设的图像分割模型，利用所述图像分割模型得到所述被测结构构件图像对应的有效掩膜，并从所述有效掩膜中提取背景掩膜；将所述背景掩膜与所述被测结构构件图像进行融合，生成仅包含目标区域的二值化掩膜；采用局部单元法，基于所述二值化掩膜，结合相机的标定参数，实现结构构件截面尺寸检测；所述采用局部单元法，基于所述二值化掩膜，结合相机的标定参数，实现结构构件截面尺寸检测，包括：采用连通域分析方法计算所述二值化掩膜的最小矩形边界框尺寸，并提取所述二值化掩膜的最小矩形边界框的左上角坐标、宽度和高度；对所述二值化掩膜内所有像素坐标进行最小二乘法线性拟合，得到所述二值化掩膜内所有像素拟合直线，通过所述二值化掩膜内所有像素拟合直线的斜率得到其倾角；结合所述二值化掩膜的最小矩形边界框的宽度和高度，以及所述二值化掩膜内所有像素拟合直线的倾角，计算出被测结构构件的尺寸；根据所述二值化掩膜的最小矩形边界框的左上角坐标和右下角坐标，将所述最小矩形边界框划分为N个局部单元；其中，N为预设的大于1的整数值；分别计算每个局部单元内掩膜的像素面积；同时，利用图像轮廓检测技术，提取每个局部单元内掩膜最外层轮廓的每个像素坐标，并确保每个局部单元内掩膜最外层轮廓中的相邻两个像素点的间距不超过1个像素；针对每一局部单元，以局部单元内掩膜像素的中心点坐标作为参考点，对局部单元内掩膜最外层轮廓的像素坐标划分边界，以获取各边缘线上的像素坐标点；分别对每个局部单元内掩膜边缘线上的像素坐标点进行最小二乘法线性拟合，从而得到各边缘线的拟合直线斜率，并换算得到其倾斜角；针对每一局部单元，基于局部单元内掩膜的像素面积以及各边缘线的拟合直线的倾斜角，计算出局部单元内的掩膜尺寸，即结构构件的截面尺寸。

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