买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜华北电力大学申请的专利一种不完全信息下计及残差污染的DR-FDIA方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118432927B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410674059.2，技术领域涉及：H04L9/40；该发明授权一种不完全信息下计及残差污染的DR-FDIA方法是由刘文霞;杨玉泽;杨成琦;成锐;曾泽华设计研发完成，并于2024-05-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种不完全信息下计及残差污染的DR-FDIA方法在说明书摘要公布了：本申请涉及电力系统攻击测试领域，公开了一种不完全信息下计及残差污染的DR‑FDIA方法，包括以下步骤：S1、选择目标量测点，构造攻击向量；S2、从攻击向量的非零元素中选取若干点置零；S3、计算降维残差期望；S4、判断条件是否成立；S5、若满足条件，记录该攻击组合，继续遍历该数量下的所有组合，若无满足条件的组合则增加置零点数量并再次遍历，若已有满足条件组合，则遍历置零点数量+1情况下的所有组合后进入S6；S6、输出置零元素残差范数最大的攻击组合。本发明拓展了虚假数据注入攻击隐蔽性的范式，仅需掌握局部拓扑结构和线路参数，就能在几十毫秒内构造攻击向量，并以很小的攻击代价误导直流交流状态估计结果。

本发明授权一种不完全信息下计及残差污染的DR-FDIA方法在权利要求书中公布了：1.一种不完全信息下计及残差污染的DR-FDIA方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、选择目标量测点，并根据以下公式构造攻击向量a：a＝Hc其中，a为攻击向量，H为雅可比矩阵，c为任意非零向量；统计攻击向量非零元素的个数为d，令计数变量k＝1，flag＝0；S2、从非零元素集合中选取d-k-1个并置零；S3、计算降维残差期望E[rNi]，其中 其中，rNi为标准化残差，W为残差灵敏度矩阵，D＝diagWR为对角矩阵，aD为降维后的攻击向量；S4、判断以下条件是否成立： 其中，RA和RP为行选择矩阵，所述行选择矩阵RA和RP的定义为： 其中，|SA|和|SP|分别表示SA和SP集合的大小；S5、若满足条件，记录当前d-k-1个置零元素的攻击向量组合，继续遍历所有个组合，判断是否有满足条件的组合存在，令k＝k+1，若已有满足条件的组合，则令flag＝flag+1；S6、若flag≠2，重复步骤S2至S5；若flag＝2，则输出置零元素残差l1范数最大的攻击组合。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华北电力大学，其通讯地址为：102206 北京市昌平区北农路2号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。