恭喜加特兰微电子科技(上海)有限公司李珊获国家专利权
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龙图腾网恭喜加特兰微电子科技(上海)有限公司申请的专利一种射频芯片老化测试座、装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222784555U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202420953049.8,技术领域涉及:G01R31/28;该实用新型一种射频芯片老化测试座、装置是由李珊;黄雪娟;庄凯杰;于晨武;钱开开;陈哲凡;王典设计研发完成,并于2024-04-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种射频芯片老化测试座、装置在说明书摘要公布了:本实用新型涉及芯片智能测试领域,公开了一种射频芯片老化测试座、装置。本实用新型中,用于连接待测射频芯片的信号引脚的芯片链接座,含有一个或多个辐射探针;辐射探针的一端连接于所述待测射频芯片中携带射频测试信号的信号引脚,且在待测射频芯片老化测试的过程保持开路,不与除所述射频测试信号以外的其他信号产生连接,在待测射频芯片老化测试的过程中对信号引脚上产生的射频测试信号进行辐射,进而使得当射频频率达到毫米波级别时能够精准的在老化实验中实现链路匹配。
本实用新型一种射频芯片老化测试座、装置在权利要求书中公布了:1.一种射频芯片老化测试座,其特征在于,包括:芯片链接座,用于连接待测射频芯片的信号引脚;所述芯片链接座包括至少一个辐射探针;所述辐射探针一端连接于所述待测射频芯片中携带射频测试信号的信号引脚,所述辐射探针的另一端保持开路,所述辐射探针用于对所述射频测试信号进行辐射。
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