恭喜杭州永谐科技有限公司刘国赢获国家专利权
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龙图腾网恭喜杭州永谐科技有限公司申请的专利一种用于OTA测试系统的温度补偿测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115524652B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211131576.2，技术领域涉及：G01R35/00；该发明授权一种用于OTA测试系统的温度补偿测试方法是由刘国赢;马长春;黄瀛设计研发完成，并于2022-09-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于OTA测试系统的温度补偿测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于OTA测试系统的温度补偿测试方法。包括如下步骤：空口和传导测试共用前端与空口和传导测试共用后端之间设置有空口测试通路和传导测试通路；在校准时，测试空口测试通路和传导测试通路，并保留校准值，分别记为Cr和Cc；测试的时候，分别测试空口测试通路和传导测试通路；记为Tr和Tc；进行温补补偿，得到最终结果。本发明通过将空口测试通路和传导测试通路共用前端和后端，只有中间一部分是分开的，并且都受到同样温度变化的影响；传导测试随温度的变化，可以代表空口测试随温度的变化；用传导测试结果随温度变化的值，对空口测试结果进行补偿；提升OTA测试系统的温补稳定性。
本发明授权一种用于OTA测试系统的温度补偿测试方法在权利要求书中公布了：1.一种用于OTA测试系统的温度补偿测试方法，其特征在于，包括如下步骤：Stp1、空口和传导测试共用前端与空口和传导测试共用后端之间设置有一空口测试通路和一传导测试通路；Stp2、在校准时，测试空口测试通路和传导测试通路，并保留校准值，分别记为Cr和Cc；Stp3、测试的时候，分别测试空口测试通路和传导测试通路；记为Tr和Tc；Stp4、进行温补补偿，得到最终结果；根据测试到传导测试通路的值和校准得到的传导测试通路的值，对空口测试通路进行温度补偿；即最终结果等于Tr+Cc-Cr。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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