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龙图腾网恭喜华南理工大学申请的专利一种针对智能反射面的测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115378515B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210810509.7，技术领域涉及：H04B17/00；该发明授权一种针对智能反射面的测试系统及测试方法是由陈海东;何招领;廖绍伟;车文荃;薛泉设计研发完成，并于2022-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种针对智能反射面的测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种针对智能反射面的测试系统及测试方法，其中系统包括：测试台，用于放置待检测的智能反射面；多个电磁探头，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；数据处理模块，用于控制射频信号从不同角度射入待检测的智能反射面；控制待检测的智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征。本发明通过移动电磁探头的位置，实现对智能反射面球面的扫描，可用于智能反射面的测试。本发明可广泛应用于微波通信技术领域。

本发明授权一种针对智能反射面的测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种针对智能反射面的测试系统，其特征在于，包括：测试台，用于放置待检测的智能反射面；多个电磁探头，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；信号发射器，用于通过电磁探头将射频信号发射至待检测的智能反射面上；信号接收器，用于通过电磁探头接收待检测的智能反射面反射的射频信号；数据处理模块，用于控制射频信号从不同角度射入待检测的智能反射面；控制待检测的智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征；所述测试支架包括圆形滑轨、第一弓形支架以及第二弓形支架；所述圆形滑轨所在的平面与所述测试台的台面所在的平面重合，所述圆形滑轨的圆心与所述中心点重合；所述第一弓形支架固定在所述圆形滑轨上，所述第一弓形支架与所述中心点处于同一个平面内，且该平面与所述圆形滑轨所在的平面垂直；所述第二弓形支架通过移动装置安装在所述圆形滑轨上，所述第二弓形支架与所述中心点处于同一个平面内，且该平面与所述圆形滑轨所在的平面垂直；所述数据处理模块通过控制移动装置，移动第二弓形支架的位置；所述电磁探头安装所述第一弓形支架上和所述第二弓形支架上。

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