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龙图腾网恭喜深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种显示屏的划痕缺陷滤除的方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119648572B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510174144.7，技术领域涉及：G06T5/70；该发明授权一种显示屏的划痕缺陷滤除的方法、装置及存储介质是由施冬冬;杨硕;崔乔乔设计研发完成，并于2025-02-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种显示屏的划痕缺陷滤除的方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种显示屏的划痕缺陷滤除的方法、装置及存储介质，用于减少显示屏缺陷过检的情况。采集划痕滤除辅助图像和待滤除图像；确定划痕滤除辅助图像上的划痕缺陷区域；确定待滤除图像上的线缺陷区域；确定所有缺陷区域最小包络区域的对角坐标信息；选取待检缺陷区域，将剩余的第一缺陷区域的行列坐标信息填充到待填充图像上；对待填充图像的区域进行筛选，生成卡控区域；确定满足基本邻接要求的第二缺陷区域；确定待检缺陷区域的匹配缺陷区域；将匹配缺陷区域和剩余区域重复上述步骤，得到整合后的缺陷区域，从第一缺陷区域中移除整合后的缺陷区域，重新选取新的待检测区域进行匹配缺陷区域的计算，直到第一缺陷区域中没有缺陷区域。

本发明授权一种显示屏的划痕缺陷滤除的方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种显示屏的划痕缺陷滤除的方法，其特征在于，包括：采集待测显示屏的划痕滤除辅助图像和待滤除图像；确定所述划痕滤除辅助图像上的划痕缺陷区域；确定所述待滤除图像上的线缺陷区域；将所述划痕缺陷区域和所述线缺陷区域叠加放到同一个缺陷区域对象数组中，并确定所有缺陷区域最小包络区域的对角坐标信息，所述对角坐标信息包括最小包络区域的一组对角坐标点的行列坐标信息；从缺陷区域对象数组中选取一个待检缺陷区域，将剩余的第一缺陷区域的行列坐标信息分别填充到预设的待填充图像的图像灰度值上，所述待检缺陷区域为线缺陷区域；根据所述待检缺陷区域的行列坐标对所述待填充图像的区域进行筛选，生成若干个卡控区域；根据若干个卡控区域确定所述第一缺陷区域中满足基本邻接要求的第二缺陷区域；计算所述待检缺陷区域和第二缺陷区域之间的最小轮廓距离，将最小轮廓距离小于预设阈值的缺陷区域作为待检缺陷区域的匹配缺陷区域；将所述匹配缺陷区域和剩余区域重复上述卡控区域筛选和新的匹配缺陷区域确定，得到整合后的缺陷区域，从第一缺陷区域中移除整合后的缺陷区域，重新选取新的待检测区域进行匹配缺陷区域的计算，直到所述第一缺陷区域中没有缺陷区域，所述剩余区域为所述第一缺陷区域中排除了所述待检缺陷区域和所述匹配缺陷区域后剩下的区域。

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