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龙图腾网恭喜芯联越州集成电路制造(绍兴)有限公司申请的专利半导体测试结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119447112B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510019182.5，技术领域涉及：H01L23/544；该发明授权半导体测试结构是由方潇功;郑茂波设计研发完成，并于2025-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体测试结构在说明书摘要公布了：本申请提供了一种半导体测试结构，第一导电结构包括第一梳柄部和至少一个第一梳齿部，第二导电结构包括第二梳柄部和至少一个第二梳齿部；延伸结构包括设置于第一梳齿部上的第一延伸结构以及设置于第二梳齿部上的第二延伸结构，第一延伸结构至少包括与第一梳齿部相交并沿第一方向延伸、沿第二方向间隔排布的第一延伸部和第二延伸部，第二延伸结构至少包括与第二梳齿部相交并沿第一方向延伸、沿第二方向间隔排布的第三延伸部和第四延伸部；第一延伸部与第四延伸部在第一方向上具有交叠区域或者第二延伸部与第三延伸部在第一方向上具有交叠区域。本申请能够更准确的模拟真实的复杂环境，测试更加准确。

本发明授权半导体测试结构在权利要求书中公布了：1.一种半导体测试结构，其特征在于，包括第一导电结构及第二导电结构；所述第一导电结构包括第一梳柄部和至少一个第一梳齿部，所述第二导电结构包括第二梳柄部和至少一个第二梳齿部，所述第一梳柄部和所述第二梳柄部均沿第一方向延伸，所述第一梳齿部与所述第二梳齿部均沿第二方向延伸并在所述第一方向上交替间隔排布；至少一组相邻的所述第一梳齿部和所述第二梳齿部上具有至少一个延伸结构，所述延伸结构包括设置于所述第一梳齿部上的第一延伸结构以及设置于所述第二梳齿部上的第二延伸结构，所述第一延伸结构至少包括与所述第一梳齿部相交并沿所述第一方向延伸、沿所述第二方向间隔排布的第一延伸部和第二延伸部，所述第二延伸结构至少包括与所述第二梳齿部相交并沿所述第一方向延伸、沿所述第二方向间隔排布的第三延伸部和第四延伸部；以及，所述第一延伸部与所述第三延伸部在所述第一方向上对齐，所述第二延伸部与所述第四延伸部在所述第一方向上对齐，所述第一延伸部与所述第四延伸部在所述第一方向上具有交叠区域或者所述第二延伸部与所述第三延伸部在所述第一方向上具有交叠区域。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人芯联越州集成电路制造(绍兴)有限公司，其通讯地址为：312000 浙江省绍兴市越城区皋埠街道临江路508号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。