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龙图腾网恭喜上海航天设备制造总厂有限公司申请的专利火箭破裂膜片定压破裂的精密加工方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118808883B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411296114.5，技术领域涉及：B23K26/00；该发明授权火箭破裂膜片定压破裂的精密加工方法是由匡以武;徐世俊;傅乐平;候建强;华寅淞;陶沙;陆晨;王曙群;杨思设计研发完成，并于2024-09-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本火箭破裂膜片定压破裂的精密加工方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种火箭破裂膜片定压破裂的精密加工方法，包括：步骤S1：测量待加工的膜片的原始厚度；步骤S2：固定待加工的膜片，确定膜片圆心，移动光轴使其与膜片圆心同心；步骤S3：调整激光光斑焦点，并对焦于膜片表面；基于设定的包括激光扫描路径、激光功率、扫描层数、每层进给量以及工作台旋转角速度，使用飞秒激光完成膜片刻痕加工；步骤S4：使用共聚焦显微镜对膜片刻痕进行测量，计算膜片刻痕的深度；步骤S5：根据膜片原始厚度和刻痕深度计算膜片剩余厚度，保留膜片剩余厚度满足预设要求的膜片。本发明可以实现膜片破裂压力波动不超过±0.01MPa，解决了膜片破裂压力散差大，合格率不高的问题。

本发明授权火箭破裂膜片定压破裂的精密加工方法在权利要求书中公布了：1.一种火箭破裂膜片定压破裂的精密加工方法，其特征在于，包括：步骤S1：测量待加工的膜片的原始厚度；步骤S2：固定待加工的膜片，确定膜片圆心，移动光轴使其与膜片圆心同心；步骤S3：调整激光光斑焦点，并对焦于膜片表面；基于设定的包括激光扫描路径、激光功率、扫描层数、每层进给量以及工作台旋转角速度，使用飞秒激光完成膜片刻痕加工；步骤S4：使用共聚焦显微镜对膜片刻痕进行测量，计算膜片刻痕的深度；步骤S5：根据膜片原始厚度和刻痕深度计算膜片剩余厚度，保留膜片剩余厚度满足预设要求的膜片；所述步骤S4采用：步骤S4.1：针对破裂膜片的刻痕使用共聚焦显微测量获得刻痕的三维点云数据；步骤S4.2：根据刻痕三维点云数据的x、y、z坐标，采用最小二乘法对刻痕三维点云数据进行平面拟合处理，得到基准平面；步骤S4.3：使用基准平面对刻痕的三维点云数据进行平面校准，获得平面校准后的三维点云数据；步骤S4.4：对校准后的三维点云数据的高度坐标信息进行统计分析，获得数据的双峰分布直方图；步骤S4.5：使用统计平均法分别计算两个波峰位置的高度平均值；步骤S4.6：计算双峰高度平均值之差，获得膜片刻痕的有效深度；所述步骤S1包括：利用接触式测量仪、杠杆千分尺测量膜片的原始厚度；其中，测量位置为膜片刻痕所在圆周上均匀分布的多个位置，根据多个位置的厚度平均值确定膜片的原始厚度；所述步骤S4.5包括：将直方图中z坐标小于刻痕平均深度的数据视为数据较小部分，对数据较小部分的分布进行降序排列，获得每个区间点云数据从高到低的排列列表；基于当前排列列表获取列表中的前n个元素，L1,L2,...,Ln；基于L1,L2,...,Ln构建刻痕底部波峰；将直方图中z坐标大于刻痕平均深度的数据视为数据较大部分，对数据较大部分的分布进行降序排列，获得每个区间点云数据从高到低的排列列表；基于当前排列列表获取列表中的前n个元素H1,H2,...,Hn；基于H1,H2,...,Hn构建刻痕顶部波峰；获得L1内所有点云的高度平均值后，使用该平均值作为刻痕底部平面的有效高度；当L1和L2内点云数量相差小于预设值时，计算L1和L2内的所有点云数据的高度平均值，使用该平均值作为刻痕底部平面的有效高度；当L1和L2内点云数量相差小于预设值，且L2和L3内点云数量相差小于预设值，计算L1、L2和L3内的所有点云数据的高度平均值，使用该平均值作为刻痕底部平面的有效高度；以此类推至Ln；其中，；获得H1内所有点云的高度平均值后，使用该平均值作为刻痕顶部平面的有效高度；当H1和H2内点云数量相差小于预设值时，计算H1和H2内的所有点云数据的高度平均值，使用该平均值作为刻痕顶部平面的有效高度；当H1和H2内点云数量相差小于预设值，且H2和H3内点云数量相差小于预设值，计算H1、H2和H3内的所有点云数据的高度平均值，使用该平均值作为刻痕顶部平面的有效高度。

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