上海道宜半导体材料有限公司顾海勇获国家专利权
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龙图腾网获悉上海道宜半导体材料有限公司申请的专利一种可靠性试验箱用老化置物架获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN222805210U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421387015.3，技术领域涉及：B01L9/00；该实用新型一种可靠性试验箱用老化置物架是由顾海勇;苏剑;陆海平;周凯;谢广超设计研发完成，并于2024-06-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种可靠性试验箱用老化置物架在说明书摘要公布了：本实用新型涉及电子制造技术领域，且公开了一种可靠性试验箱用老化置物架，适用于试验框架，包括：底座，底座两侧各设置一支架，支架开设若干竖槽，两个支架上对称设置的两个竖槽配合形成一承托结构，承托结构用于竖立摆放试验框架，支架为板状结构，并设置于底座两侧作为侧板，底座为板状结构，并与侧板通过螺丝相连。该可靠性试验箱用老化置物架，将试验框架竖立摆放在竖槽中，使得若干试验框架可以集中放置并相互独立，相较于在托盘上平铺试验框架的方式，单个置物架在不堆叠试验框架的情况下可以容纳更多的试验框架，使得试验箱的单次试验量增加，可以明显缩短实验整体周期，并节省电力能源。
本实用新型一种可靠性试验箱用老化置物架在权利要求书中公布了：1.一种可靠性试验箱用老化置物架，适用于试验框架，其特征在于：包括：底座1，所述底座1两侧各设置一支架2，所述支架2开设若干竖槽3，两个所述支架2上对称设置的两个所述竖槽3配合形成一承托结构，所述承托结构用于竖立摆放所述试验框架。
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