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龙图腾网恭喜三星电子株式会社申请的专利半导体设备及其测试设备和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN110827914B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910167066.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权半导体设备及其测试设备和方法是由黄淙泰设计研发完成，并于2019-03-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体设备及其测试设备和方法在说明书摘要公布了：一种测试设备包括测试安装电路，该测试安装电路上安装有多个半导体设备作为相应的被测设备。每个被测设备中包括对应的延迟控制电路和目标电路。提供电耦接到测试安装电路的测试逻辑器件。测试逻辑器件被配置为生成测试输入，测试输入被并行地提供给多个被测设备内的延迟控制电路。延迟控制电路至少包括第一延迟控制电路和第二延迟控制电路，第一延迟控制电路和第二延迟控制电路被配置为在相对于彼此异相的相应的第一测试时间间隔和第二测试时间间隔期间向对应的第一目标电路和第二目标电路传递测试输入，以便在测试期间实现测试安装电路的更均匀的功耗需求。

本发明授权半导体设备及其测试设备和方法在权利要求书中公布了：1.一种测试设备，包括：测试安装电路，其上安装有多个半导体设备作为相应的被测设备，在所述被测设备中包括对应的延迟控制电路和目标电路；以及测试逻辑器件，电耦接到所述测试安装电路，所述测试逻辑器件被配置为生成测试输入，所述测试输入被并行地提供给所述多个被测设备内的延迟控制电路，所述延迟控制电路至少包括第一延迟控制电路和第二延迟控制电路，所述第一延迟控制电路和所述第二延迟控制电路被配置为通过将传递给第二目标电路的测试输入相对于传递给第一目标电路的测试输入而延迟，使得所述第二目标电路的测试相对于所述第一目标电路而延迟，来在相对于彼此异相的相应的第一测试时间间隔和第二测试时间间隔期间，向对应的所述第一目标电路和所述第二目标电路传递所述测试输入；其中，所述第一目标电路包括第一存储器单元阵列，并且所述第二目标电路包括第二存储器单元阵列；其中，将测试输入写入所述第一存储器单元阵列中的时刻不同于将测试输入写入所述第二存储器单元阵列中的时刻；并且其中，所述测试逻辑器件被配置为向所述多个半导体设备提供延迟控制信号，以针对测试输入设置不同的延迟量。

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