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龙图腾网恭喜珠海电科星拓科技有限公司申请的专利电迁移评估方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119442994B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510037954.8，技术领域涉及：G06F30/3308；该发明授权电迁移评估方法、装置及电子设备是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2025-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本电迁移评估方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种电迁移评估方法、装置及电子设备，涉及集成电路技术领域。该方法包括：获取集成电路样品在多个应用场景下分别对应的工作温度和工作时间，并依据多个工作时间之和得到目标寿命时间。确定集成电路样品的电迁移温度函数。利用电迁移温度函数将每个工作温度下对应的工作时间归一化到参考温度下，以得到第一等效时间。基于电迁移温度函数、目标寿命时间和多个第一等效时间确定第一等效温度。在第一等效温度下对集成电路样品进行电迁移仿真分析，得到仿真结果，并基于仿真结果评估集成电路样品中的互连线是否存在电迁移风险。本发明中的第一等效温度更加贴近集成电路样品的实际应用温度，极大地提高了电迁移分析的准确性。

本发明授权电迁移评估方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种电迁移评估方法，其特征在于，用于评估集成电路样品中互连线的电迁移风险，所述方法包括：获取所述集成电路样品在多个应用场景下分别对应的工作温度和工作时间，并依据多个所述工作时间之和得到目标寿命时间；确定所述集成电路样品的电迁移温度函数；利用所述电迁移温度函数将每个工作温度下对应的所述工作时间归一化到参考温度下，以得到第一等效时间；基于所述电迁移温度函数、所述目标寿命时间和多个所述第一等效时间确定第一等效温度；获取所述集成电路样品的工艺信息；当所述集成电路样品采用立体工艺制成时，在所述第一等效温度下对所述集成电路样品进行电迁移仿真分析，得到第一仿真结果，并基于所述第一仿真结果评估立体工艺集成电路样品中的互连线是否存在电迁移风险；当所述集成电路样品采用平面工艺制成时，在所述第一等效温度下对所述集成电路样品进行电迁移仿真分析，得到互连线的第一平均电流电迁移值和均方根电流电迁移值；基于所述均方根电流电迁移值和预设自发热温升得到互连线的实际自发热温升，其中，所述预设自发热温升为所述均方根电流电迁移值为100%时所对应的互连线的自发热产生的温升值；基于所述电迁移温度函数、所述第一等效温度、所述实际自发热温升和所述第一平均电流电迁移值得到第二平均电流电迁移值；基于所述第二平均电流电迁移值评估平面工艺集成电路样品中的互连线是否存在电迁移风险。

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