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龙图腾网恭喜中国科学院光电技术研究所申请的专利一种利用组合哈特曼系统提高空间分辨率的波前测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115077726B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210722047.3，技术领域涉及：G01J9/00；该发明授权一种利用组合哈特曼系统提高空间分辨率的波前测量方法是由黄林海;吴晓松;张兰强;顾乃庭;郭友明设计研发完成，并于2022-06-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种利用组合哈特曼系统提高空间分辨率的波前测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种利用组合哈特曼系统提高空间分辨率的波前测量方法，该方法使用两个或以上不同排布方式的低分辨波前探测器，通过波前处理机进行综合波前复原运算后提高波前探测的空间分辨率。该方法利用两个以上波前探测器，借助波前探测器不同的排布方式特点，通过在复原过程中增加约束项的方式提升组合波前探测器的空间分辨率，达到高分辨波前探测的目的。本发明通过组合两个以上低分辨波前探测器达到实现高分辨测量效果，具有结构简单，实时性强等特点，特别适用于低对比度扩展目标的实时高分辨波前探测。

本发明授权一种利用组合哈特曼系统提高空间分辨率的波前测量方法在权利要求书中公布了：1.一种利用组合哈特曼系统提高空间分辨率的波前测量方法，所述组合哈特曼系统包括第一哈特曼波前探测器（1），第二哈特曼波前探测器（2），波前信号处理板（3），输入光束分光器（4）和信号输出接口（5），其特征在于，所述波前测量方法包括如下步骤：步骤1）：含待测量波前的输入光束经过所述光束分光器（4）后分别进入第一哈特曼波前探测器（1）和第二哈特曼波前探测器（2），通过波前信号处理板（3）采集所述第一哈特曼波前探测器（1）和第二哈特曼波前探测器（2）中光斑阵列图像数据；步骤2）：基于步骤1）获得的光斑阵列图像数据，通过质心计算方法分别计算第一哈特曼波前探测器（1）的实测波前斜率分布数据S1和第二哈特曼波前探测器（2）的实测波前斜率分布数据S2；步骤3）：通过求解方程，获得高分辨的波前分布数据C，其中，是优化的目标函数，优化的目标是通过选择不同的C使得的数值最小；是通过步骤2）得到的第一哈特曼波前探测器（1）的实测波前斜率分布数据，是通过步骤2）得到的第二哈特曼波前探测器（2）的实测波前斜率分布数据，是第一哈特曼波前探测器（1）的波前复原矩阵，是第二哈特曼波前探测器（2）的波前复原矩阵，是约束项或正则项；所述第一哈特曼波前探测器（1）和第二哈特曼波前探测器（2）的子孔径排布不相同；利用低分辨哈特曼探测器之间的采样差异，由于每一个低分辨哈特曼探测器对应的子孔径采集区域并不相同，这个差异将最终体现在子孔径斜率上，通过求解方程，将这个差异求解出来，获得高分辨的波前信息。

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